[发明专利]一种用于真空干燥箱的温度校准方法

权利要求书

1.一种用于真空干燥箱的温度校准方法，其特征在于：该方法包括如下步骤；

1)构建测温系统：

1.1)温度记录仪，感温探头外置，内置电池，外形为圆柱状，温度测量最大允许误差不大于0.3℃；

1.2)均温块，采用铜作为材质制成，外形为圆柱状，在其中一个底面开盲孔，孔径略大于温度记录仪感温探头直径，孔深与温度记录仪感温探头长度相当；

1.3)温度记录仪与均温块配套使用，将温度记录仪感温探头插入均温块盲孔内；

2)校准点的选择：选择真空干燥箱内常用的样品搁板，测试点的位置布置在真空干燥箱样品搁板上，周围布置4个测试点，几何中心布置1个测试点，各测试点与工作室内壁的距离不小于各边长的1/10；

3)校准过程：校准开始前，打开温度记录仪，设置温度记录仪温度记录频率、记录时长；将样品搁板放置在真空干燥箱内指定位置后，将装配好的温度记录仪和均温块整体竖直放置在搁板的5个测试点上，均温块上与盲孔开孔面相对的另一底面与搁板接触；关闭真空干燥箱箱门，打开电源，开启真空泵对真空干燥箱抽真空，待箱内压力达到预定压力后，关闭真空阀和真空泵，开启真空干燥箱的加热系统，待真空干燥箱指示温度达到设定温度后，继续稳定两个小时以上，确保真空干燥箱各测试点温度达到稳定；然后关闭真空干燥箱电源，打开平衡阀，待真空干燥箱温度降至室温并且箱内外压力达到平衡后，打开箱门，取出温度记录仪，读取温度记录数据；

4)数据处理：取真空干燥箱内温场稳定后30min内的温度测量数据进行处理，计算温度波动度、均匀度、示值误差；

4.1)温度波动度计算

真空干燥箱内温场稳定后，针对每块搁板，计算每一个测量点在30min内的最高温度与最低温度的差值，取测量点中的最大差值为真空干燥箱的温度波动度；

Δt_f＝max(t_jmax-t_jmin)；

式中：Δt_f为温度波动度，℃；t_jmax为测量点j测得的最高温度，℃；t_jmin为测量点j测得的最低温度，℃；

4.2)温度均匀度计算

真空干燥箱内温场稳定后，针对每块搁板，取各测量点30min内的实测温度数据，计算m次测量中各测量点的最大值与最小值的差值，取差值的算术平均值为真空干燥箱的温度均匀度；

式中：Δt_u为温度均匀度，℃；t_imax为各校准点在第i次测得的最高温度，℃；t_imin为各校准点在第i次测得的最低温度，℃；

4.3)温度偏差计算

真空干燥箱内温场稳定后，针对每块搁板，取设备显示值与n个测量点在m次测量中得到的温度值的算术平均值之差为真空干燥箱的温度示值误差；

式中：Δt_d为温度示值误差，℃；t_s为设备显示值，℃；t_ij为校准点j在第i次测得的温度，℃。

2.根据权利要求1所述的一种用于真空干燥箱的温度校准方法，其特征在于：根据需要将隔热棉塞入盲孔，确保感温探头与盲孔内壁压力接触。

3.根据权利要求1所述的一种用于真空干燥箱的温度校准方法，其特征在于：用户可根据搁板数量和真空干燥箱使用情况自行决定校准面数量。

4.根据权利要求1所述的一种用于真空干燥箱的温度校准方法，其特征在于：在校准过程中，环境条件为：温度：15℃～35℃；湿度：≤85％RH。