[发明专利]显示面板检测方法

说明书

本发明提供一种显示面板检测方法，该方法包括：对显示面板进行光学检测，得到光学检测数据；对显示面板进行电性检测，得到电性检测数据；根据预设条件对所述光学检测数据和所述电性检测数据进行合并，生成面板检测数据。本发明提供的显示面板检测方法，通过对显示面板进行光学检测得到光学检测数据和进行电性检测得到的电性检测数据，再根据预设条件对光学检测数据和电性检测数据进行合并生成面板检测数据；该面板检测数据包括有显示面板缺陷的位置信息，当显示面板进入修补机台后，修补机台就会读取最新合并生成的面板检测数据对显示面板进行修补，避免了显示面板的缺陷漏放，提升了显示面板的良率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板检测方法。

背景技术

在液晶显示技术领域，液晶显示器件的不良现象经常发生，不良现象多种多样。减少不良的发生，提高产品的良品率，从而节约成本是每个厂家一直追求的目标。

在有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)制造过程中，液晶显示器件产生不良的现象是不可以避免的。所述不良主要分两大类别光学不良和电学不良。相应地，在制作产品的过程中，有光学检测设备和电学检测设备，液晶显示面板的不良可以通过光学检测设备和电学检测设备检测相应的不良现象，如通过光学检测设备检测液晶是否具有缺陷、或通过电学检测设备检测TFT是否有坏损的情况。

但是现有的不良检测存在以下缺陷：第一、工程不良反馈时间较长，无法同时针对一张玻璃基板上的所有面板进行测量。当某一不良存在一张玻璃基板上的所有面板中时，一一测试面板的不良，明显带来较大的工作量。并且，现有无法在切割工艺之前反应面板的不良，会导致产品的报废率较高。第二、检测出的不良无法判断是电学不良还是光学不良。

发明内容

本发明针对现有技术下的面板检测方法，无法准确判断显示面板中的缺陷位置，造成显示面板漏放的问题，提出一种显示面板检测方法，该显示面板检测方法包括：

对显示面板进行光学检测，得到光学检测数据；

对显示面板进行电性检测，得到电性检测数据；

根据预设条件对所述光学检测数据和所述电性检测数据进行合并，生成面板检测数据。

进一步的，在所述根据预设条件对所述光学检测数据和所述电性检测数据进行合并，生成面板检测数据之前，所述方法还包括：

判断所述电性检测数据中是否存在标识数据；

若所述电性检测数据中存在标识数据，确定所述显示面板中存在缺陷；

所述根据预设条件对所述光学检测数据和所述电性检测数据进行合并，生成面板检测数据，包括：

当所述显示面板中存在缺陷时，对所述光学检测数据与所述电性检测数据进行合并，生成面板检测数据。

进一步的，所述光学检测数据包括所述显示面板中缺陷点的光学位置信息，所述电性检测数据包括所述显示面板中缺陷点的电性位置信息；

所述根据预设条件对所述光学检测数据和所述电性检测数据进行合并，生成面板检测数据，包括：

根据预设条件对所述光学位置信息和所述电性位置信息在同一坐标系中进行合并，生成所述面板检测数据。

进一步的，所述对显示面板进行光学检测，得到光学检测数据包括：

对所述显示面板进行第一光学检测，得到第一光学检测数据；

对所述显示面板进行第二光学检测，得到第二光学检测数据；

所述对显示面板进行电性检测，得到电性检测数据包括：

对所述显示面板进行第一电性检测，得到第一电性检测数据；