[发明专利]清洁设备、清洁方法及计算机可读存储介质在审
申请号: | 201910640130.4 | 申请日: | 2019-07-16 |
公开(公告)号: | CN110773465A | 公开(公告)日: | 2020-02-11 |
发明(设计)人: | 佐藤洋平;胜俣百恵 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | B08B1/00 | 分类号: | B08B1/00;B08B5/02;B08B13/00 |
代理公司: | 11293 北京怡丰知识产权代理有限公司 | 代理人: | 迟军;李艳丽 |
地址: | 日本国东京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 清洁器 清洁 清洁设备 检测面 擦拭 检测 计算机可读存储介质 接触方式 清洁检测 风压 | ||
1.一种清洁方法,其被包括第一清洁部件和第二清洁部件的清洁设备用来清洁包括检测面的检测元件,所述清洁方法包括:
利用所述第一清洁部件来通过风压清洁所述检测元件的检测面;以及
利用所述第二清洁部件来以接触方式擦拭所述检测元件的检测面,
其中,顺次进行利用所述第一清洁部件的清洁和利用所述第二清洁部件的擦拭。
2.根据权利要求1所述的清洁方法,其中,在利用所述第二清洁部件的擦拭之后,所述第一清洁部件进一步通过风压清洁所述检测元件的检测面。
3.根据权利要求1所述的清洁方法,还包括:在利用摄像部件拍摄所述检测面的图像并且利用控制部件将所拍摄到的图像显示在显示部件上的情况下,进行检查。
4.根据权利要求3所述的清洁方法,其中,在所述摄像部件拍摄所述检测面的图像时,照射部件用光照射所述检测面。
5.根据权利要求3所述的清洁方法,其中,
进行第一次检查和第二次检查至少两次检查,以及
所述控制部件基于通过所述第一次检查所获得的图像和通过所述第二次检查所拍摄到的图像来进行比较。
6.根据权利要求5所述的清洁方法,其中,所述控制部件将通过所述第一次检查所获得的图像和通过所述第二次检查所获得的图像以能够比较的方式显示在所述显示部件上。
7.根据权利要求3所述的清洁方法,其中,所述检查在所述第一清洁部件第一次进行的清洁之前以及在所述第一清洁部件第二次进行的清洁之后都进行。
8.根据权利要求3所述的清洁方法,其中,所述检查在所述第一清洁部件的清洁之前以及在所述第二清洁部件的擦拭之后都进行。
9.根据权利要求3所述的清洁方法,其中,所述检查包括:分析所述摄像部件所拍摄到的图像,并且检测所述检测面上的灰尘量。
10.根据权利要求3所述的清洁方法,其中,所述检测元件还用作被配置为拍摄所述检测面的图像的所述摄像部件。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的清洁方法,其中,利用所述第一清洁部件的清洁包括:驱动所述第一清洁部件以使所述第一清洁部件中所包括的第一清洁部指向开口,使所述第一清洁部件经由所述开口靠近所述检测面,并且在清洁之后使所述第一清洁部件退避到所述清洁设备中,所述第一清洁部被配置为排出空气流。
12.根据权利要求1至10中任一项所述的清洁方法,其中,利用所述第二清洁部件的擦拭包括:驱动所述第二清洁部件以使所述第二清洁部件的第二清洁部指向开口,使所述第二清洁部件经由所述开口靠近所述检测面并进行清洁,并且在清洁之后使所述第二清洁部件退避到所述清洁设备中,所述第二清洁部被配置为进行擦拭。
13.根据权利要求1至10中任一项所述的清洁方法,还包括:
利用控制部件获得与所述检测元件有关的检测元件信息,
其中,基于所述检测元件信息来控制所述第一清洁部件和所述第二清洁部件以清洁所述检测元件。
14.根据权利要求13所述的清洁方法,其中,所述检测元件信息包括所述检测面的大小和位置中的至少任一个。
15.根据权利要求13所述的清洁方法,其中,所述检测元件信息包括指示包括所述检测元件的检测设备的型号的型号信息。
16.根据权利要求1所述的清洁方法,还包括:利用控制部件,基于从存储有与各检测设备有关的检测元件信息的存储器所读取的检测元件信息来确定控制信息。
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