[发明专利]存储器测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种存储器测试方法，包括：

获取功能数据；

基于所述功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据；

确定所述待测试数据与所述参考数据的比较结果；

基于所述比较结果，确定对所述存储器的测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于所述功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据，包括：

响应于测试数据模式开启，且确定所述功能数据为测试读指针，控制所述存储器停止数据读指针的更新；

基于所述测试读指针，读取写入所述存储器的数据作为待测试数据；

获取所述待测试数据对应的原始数据作为参考数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述基于所述比较结果，确定对所述存储器的测试结果，包括：

若所述比较结果表示所述测试数据与所述参考数据不同，确定所述存储器的测试结果为输出第一警告信息。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述方法还包括：

响应于所述测试数据模式关闭，控制所述存储器更新数据读指针。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于所述功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据，包括：

响应于确定所述功能数据为以下任一种：数据读指针、数据写指针、空满标志，将所述功能数据确定为待测试数据；

复制所述功能数据，得到功能副本数据，将所述功能副本数据作为参考数据。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述基于所述比较结果，确定对所述存储器的测试结果，包括：

将所述功能数据和所述功能副本数据输入功能数据比较器；

在目标周期内，通过所述比较器确定所述功能数据和所述功能副本数据之间的比较结果；

如果所述比较结果表示所述功能数据和所述功能数据副本不同，确定所述存储器的测试结果为输出第二警告信息。

7.根据权利要求1-6之一所述的方法，其中，所述基于所述功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据，包括：

响应于向所述存储器写入数据，确定写入的数据为功能数据；

对所述功能数据进行编码，得到第一编码数据作为待测试数据；

响应于从所述存储器读出所述写入的数据，对读出的数据进行编码，得到第二编码数据作为参考数据。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述基于所述比较结果，确定对所述存储器的测试结果，包括：

基于所述待测试数据和所述参考数据的比较结果，确定所述写入的数据和所述读出的数据是否相同；

如果不同，确定所述存储器的测试结果为输出第三警告信息。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述确定所述存储器的测试结果为输出第三警告信息，包括：

如果所述写入的数据和所述读出的数据不同的位数小于预设位数，确定所述存储器的测试结果为输出包括第一数据位错误警告的第三警告信息；

如果所述写入的数据和所述读出的数据不同的位数大于或等于所述预设位数，确定所述存储器的测试结果为输出包括第二数据位错误警告的第三警告信息。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述方法还包括：

如果所述写入的数据和所述读出的数据不同的位数小于或等于预设位数，输出包括第一数据位错误警告的第三警告信息，以及纠正发生错误的数据位。

11.一种存储器测试装置，包括：

获取模块，用于获取功能数据；

第一确定模块，用于基于所述功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据；

第二确定模块，用于确定所述待测试数据与所述参考数据的比较结果；

第三确定模块，用于基于所述比较结果，确定对所述存储器的测试结果。