[发明专利]一种学业成长曲线测试方法和系统

说明书

本发明公开了一种学业成长曲线测试方法和系统，包括确定学业成长曲线测试周期；获取各个学生在测试周期内的评分因素的相关信息，评分因素的相关信息包括学生的日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分；根据评分因素的权重系数，计算出学生在该测试周期内的得分，根据各个测试周期的得分拟合出学业成长曲线。本发明综合学生的各个方面的因素，对学生进行全方面的成长测试。

技术领域

本发明涉及学业检测技术领域，特别是指一种学业成长曲线测试方法和系统。

背景技术

现有技术中，检测学生的学业成长大多是根据学生的成绩或者成绩排名的上升或下降来判断的，但是这种判断标准对每个学生的成长判断是片面的，容易忽略学生在成绩之外的其他因素的成长判断。

发明内容

本发明提出一种学业成长曲线测试方法和系统，解决现有判断标准中根据学生的成绩或者成绩排名的上升或下降来判断，从而导致对每个学生的成长判断片面、容易忽略学生在成绩之外的其他因素成长的问题。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种学业成长曲线测试方法，包括

S1，确定学业成长曲线测试周期；

S2，获取各个学生在测试周期内的评分因素的相关信息，评分因素的相关信息包括学生的日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分；

S3，根据评分因素的权重系数，计算出学生在该测试周期内的得分，根据各个测试周期的得分拟合出学业成长曲线。

作为本发明的一个优选实施例，步骤S2中考试倾向性评分具体指的是学生在考试中正确题目的倾向性，包括但不限于创造力、记忆力、想象力。

作为本发明的一个优选实施例，步骤S2中学生的日常评分包括学生听课时的评分、与老师交互的评分以及日常作业的评分。

作为本发明的一个优选实施例，还包括以下步骤

S4，根据日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分分别单独拟合出子成长曲线，并与学业成长曲线关联。

作为本发明的一个优选实施例，还包括以下步骤：

S5，根据学业成长曲线和子成长曲线得出学业报告。

一种学业成长曲线测试系统，包括

设置单元，用于设置学业成长曲线测试周期以及在测试周期内的评分因素，评分因素包括学生的日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分中的两项或多项；

获取单元，用于获取测试周期内设定评分因素的相关信息，即学生的日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分中的两项或多项；

拟合单元，用于根据评分因素的权重系数，计算出学生在该测试周期内的得分，根据各个测试周期的得分拟合出学业成长曲线。

作为本发明的一个优选实施例，考试倾向性评分具体指的是学生在考试中正确题目的倾向性，包括但不限于创造力、记忆力、想象力。

作为本发明的一个优选实施例，学生的日常评分包括学生听课时的评分、与老师交互的评分以及日常作业的评分。

作为本发明的一个优选实施例，所述拟合单元，还用于根据日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分分别单独拟合出子成长曲线，并与学业成长曲线关联。

作为本发明的一个优选实施例，还包括报告单元，用于根据学业成长曲线和子成长曲线得出学业报告。

本发明的有益效果在于：综合学生的各个方面的因素，对学生进行全方面的成长测试。