[发明专利]一种适用于现场PMU测试的校准器相量测量方法

权利要求书

1.一种适用于现场PMU测试的校准器相量测量方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤1、基于电力信号频谱和同步相量来获取数字带通滤波器进行相量测量的手段；其中，所获取的数字带通滤波器进行相量测量的手段具体为：

将电力信号分为基波信号和谐波、间谐波干扰信号，而基波信号根据欧拉公式分为正频分量和负频分量；基波正频分量即为所要求解的相量，因此设计一个带通滤波器提取出电力信号中基波正频分量并抑制干扰信号即可；

步骤2、获取卷积形式与乘积形式下相量测量滤波器系数及其频谱的关系；其中，所获取的卷积形式与乘积形式下相量测量滤波器系数及其频谱的关系具体为：

式中，h(k)为卷积形式下的相量测量滤波器系数，其频谱为H(f)；h′(k)为乘积形式下的相量测量滤波器系数，其频谱为H′(f)；

步骤3、获取实序列低通滤波器的参数要求和设计手段，利用傅立叶变换的调制性质求得乘积形式下相量测量复序列带通滤波器系数；

步骤4、然后基于该带通滤波器系数进行频带提取，获得上传至主站的基波相量；其中，基于该带通滤波器系数进行频带提取具体为：

式中，t_k表示相量计算时刻；y(·)表示电力信号的采样值；表示滤波后的信号，即提取出的正频分量；T_k(·)为：

T_k＝T+t_k

最终获得的上传至主站的基波相量为：

式中，表示上传至主站的基波相量；N为滤波器阶数；f_n为系统额定频率50Hz；T表示关于时间序列的向量。

2.根据权利要求1所述适用于现场PMU测试的校准器相量测量方法，其特征在于，在步骤3中，所获取的实序列低通滤波器的参数要求具体为：

滤波器通带为-5Hz～5Hz；阻带范围为-f_s/2Hz～-F_r/2Hz和F_r/2Hz～f_s/2Hz；

其中，f_s表示采样率；F_r表示PMU的上传速率；通带增益的绝对值小于0.0015dB；基波负频增益小于-100dB；其它组增益小于-80dB。

3.根据权利要求1所述适用于现场PMU测试的校准器相量测量方法，其特征在于，在步骤3中，所获取的低通滤波器的设计手段具体为：

选用等波纹设计法来设计低通滤波器系数。

4.根据权利要求1所述适用于现场PMU测试的校准器相量测量方法，其特征在于，在步骤3中，所获得的乘积形式下相量测量复序列带通滤波器系数具体为：

式中，h_l(k)表示所设计的实序列低通滤波器参数；N为滤波器阶数；f_n为系统额定频率50Hz；T(·)为：

其中，f_s表示采样率。