[发明专利]二类超晶格雪崩光电探测器及其制作方法有效
申请号: | 201910648930.0 | 申请日: | 2019-07-17 |
公开(公告)号: | CN110311000B | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 赵成城;马文全;黄建亮;张艳华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/0248 | 分类号: | H01L31/0248;H01L31/0352;H01L31/107;H01L31/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 鄢功军 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二类超 晶格 雪崩 光电 探测器 及其 制作方法 | ||
本公开提供一种二类超晶格雪崩光电探测器及其制备方法,包括:衬底;缓冲层,位于所述衬底上;N型欧姆接触层,位于所述缓冲层上,为N型InAs/GaSb超晶格;雪崩倍增层,覆于部分所述欧姆接触层之上,未被覆盖的欧姆接触层形成一台面;光吸收层,位于所述雪崩倍增层上,为InAs/GaSb超晶格,用于探测红外光;P型欧姆接触层,位于所述光吸收层上;钝化层,覆于所述台面的部分上表面并开设有第一电极窗口,同时覆盖所述P型欧姆接触层上表面边缘处,并开设有第二电极窗口;以及还覆于所述雪崩倍增层、光吸收层、P型欧姆接触层的侧面;P电极,位于所述第二电极窗口内,居中裸露P型欧姆接触层区域作为通光孔;以及N电极,位于所述台面上的第一电极窗口内。
技术领域
本公开涉及半导体技术领域,尤其涉及一种二类超晶格雪崩光电探测器及其制作方法,其为红外波段的倍增区与吸收区分离的InAs/GaSb二类超晶格雪崩光电探测器。
背景技术
红外探测技术不论在军事领域还是民用领域均有非常广泛的应用。在现代军事领域中,被动红外探测技术由于其准确可靠、反应迅速、保密性强、抗电子干扰性强等无可比拟的优势,越来越被人们所重视。在遥感、导航、火灾监控等民用领域,红外探测技术也发挥着重要的作用。对于InAs/GaSb二类超晶格材料来说,由于其独特的能带结构,InAs材料导带底能量比GaSb材料价带顶能量大约低0.2eV,因此具备了很多独特的性质。InAs/GaSb二类超晶格作为红外探测器量子效率高,均匀性好,基于较为成熟的III/V族半导体生长工艺成本低,生长质量好,吸收带隙可调,是理想的红外探测材料。而且InAs和GaSb的晶格常数接近,通过调节InAs和GaSb的厚度和界面类型,仍然能够与GaSb衬底匹配。
然而由于大气环境的复杂性,在大气层中传输的红外光会被CO,CO2,水蒸气等吸收,造成信号大幅度的衰减,降低探测效率。雪崩光电探测器因为能够显著提高光探测的响应度,因此在光纤传输、制导感测、激光雷达等军民领域被广泛应用。综合考虑以上因素,使用InAs/GaSb二类超晶格材料制作雪崩光电探测器,能够在探测红外光的同时,提供更高的响应度,从而满足极端条件下的工作要求。但是红外波段的InAs/GaSb超晶格材料禁带宽度窄,外加高电压后暗电流大,会降低信噪比。
公开内容
(一)要解决的技术问题
基于上述问题,本公开提供了一种二类超晶格雪崩光电探测器及其制作方法,以缓解现有技术中雪崩光电探测器中红外波段的InAs/GaSb超晶格材料禁带宽度窄,外加高电压后暗电流大,会降低信噪比等技术问题。
(二)技术方案
本公开的一个方面,提供一种二类超晶格雪崩光电探测器,包括:衬底1,制备材料包括GaSb;缓冲层2,位于所述衬底上,制备材料包括不掺杂的GaSb;N型欧姆接触层3,位于所述缓冲层上,制备材料包括N型InAs/GaSb超晶格;雪崩倍增层4,覆于部分所述欧姆接触层3之上,未被覆盖的欧姆接触层3形成一台面;光吸收层5,位于所述雪崩倍增层4上,制备材料包括InAs/GaSb超晶格,用于探测红外光;P型欧姆接触层6,位于所述光吸收层5上;钝化层7,覆于所述台面的部分上表面并开设有第一电极窗口,同时覆盖所述P型欧姆接触层6上表面边缘处,并开设有第二电极窗口;以及还覆于所述雪崩倍增层4、光吸收层、P型欧姆接触层6的侧面;P电极8,位于所述第二电极窗口内,居中裸露P型欧姆接触层6区域作为通光孔7a;以及N电极9,位于所述台面上的第一电极窗口内。
在本公开实施例中,所述雪崩倍增层4由下至上包括:电荷层4a,制备材料包括N型InAlAs/AlInAsSb;雪崩倍增区4b,制备材料包括不掺杂的I型InAlAs/AlInAsSb;以及电荷截止层4c,制备材料包括P型InAlAs/AlInAsSb。
在本公开实施例中,所述P型欧姆接触层6,由下至上包括:下欧姆接触层6a,制备材料包括P型InAs/GaSb超晶格;以及上欧姆接触层6b,制备材料包括P型InAs。
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