[发明专利]基于电磁原理的倒角测量方法及装置

说明书

本发明提供一种基于电磁原理的倒角测量装置，包括：使得回转体零件在一个固定位沿其自身轴线转动的一定位与驱动机构；设置在回转体零件倒角相应上方的一电磁传感器，用于测量电磁传感器与回转体零件倒角之间的距离，将所述距离信息转化为相应电信号，并向信号处理装置发送；用于固定所述电磁传感器的一支架；用于为电磁传感器提供激励的一磁场激励装置；用于接收电磁传感器发出电信号并进行处理的信号处理装置。本发明采用非接触式检测方式，检测速度快，可以进行自动化检测。

技术领域

本发明涉及制造业测量仪器领域，尤其是一种用于导电材料回转体零件的倒角检测方法和测量仪器。

背景技术

在机械加工领域，倒角是非常普遍和重要的一道工序，同时具有多种作用。比如可以避免尖角划伤相关人员，可以减小零件的应力集中加强零件强度，可以在装配时提供导向作用。倒角在加工时可能会偏离设计尺寸或深浅不均，这样对零件的质量会有较大影响，因此有必要对零件的倒角进行测量。

目前，倒角测量方法常用的是游标卡尺、倒角规倒角轮廓检测仪等机械式方法，这种方法完全依赖人工进行测量、读数，且测量工具需要接触待测零件，可能会对高质量的加工表面造成伤害，检测效率低、易受人为因素干扰。

中国专利CN101036045A中描述了一种基于光线反射方法的倒角测量方法，其基本思路是将光线水平照射到两垂直面之间的待测倒角上，照射到待测倒角上的光线成90°反射后行程一条亮的光带；通过获取亮的光带图像来测量该光带的宽度，该光带的宽度即对应为待测倒角的R值。这种方法的装置复杂，需要光源发射器和摄像机，还需要对得到的图像进行分析处理，运算量大。光学方法对零件的表面洁净程度和表面质量有较高要求，很难检测表面有较多油污和加工表面复杂的零件倒角。另外光学方法对测量环境的要求较高，易受环境光的干扰。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中存在的不足，提供一种基于电磁原理的倒角测量方法及装置，采用非接触式检测方式，检测速度快，可以进行自动化检测。本发明采用的技术方案是：

一种基于电磁原理的倒角测量装置，包括：

使得回转体零件在一个固定位沿其自身轴线转动的定位与驱动机构；

设置在回转体零件倒角相应上方的电磁传感器，用于测量电磁传感器与回转体零件倒角之间的距离，将所述距离信息转化为相应电信号，并向信号处理装置发送；

用于固定所述电磁传感器的支架；

用于为电磁传感器提供激励的磁场激励装置；

用于接收电磁传感器发出电信号并进行处理的信号处理装置。

进一步地，所述定位与驱动机构包括双滚筒和用于驱动双滚筒中主动滚筒旋转的驱动装置；双滚筒包括两个平行设置的滚筒；两个滚筒相隔一个距离安装在平台上。

更进一步地，支架立于双滚筒一端外侧，且对准两个滚筒中间；

安装于支架上的电磁传感器位于双滚筒中间上方。

更进一步地，双滚筒中，其中一个或两个滚筒作为主动滚筒，驱动装置用于带动主动滚筒旋转。

进一步地，所述支架能够调节电磁传感器的高度。

进一步地，所述电磁传感器采用涡流传感器，涡流传感器包括激励线圈、接收差分线圈、接收检测线圈；接收差分线圈、激励线圈和接收检测线圈沿待测零件轴线方向排列；激励线圈位于接收差分线圈和接收检测线圈中间，接收检测线圈位于零件倒角的正上方，接收差分线圈位于激励线圈的另一侧，且与零件周面相对；接收差分线圈和接收检测线圈进行差分连接后，再连接信号处理装置；激励线圈连接磁场激励装置。