[发明专利]一种氮化镓或氮化铝纳米孔的制备方法有效
申请号: | 201910656222.1 | 申请日: | 2019-07-19 |
公开(公告)号: | CN110364594B | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 闫李;柴旭朝;焦岳超;张梁;瞿博阳;郭倩倩;朱小培;李召;付凯 | 申请(专利权)人: | 中原工学院 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/16;H01L33/18;H01L33/32 |
代理公司: | 郑州联科专利事务所(普通合伙) 41104 | 代理人: | 付艳丽 |
地址: | 450000 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化 纳米 制备 方法 | ||
本发明提供一种氮化镓或氮化铝纳米孔的制备方法,包括以下步骤:在蓝宝石衬底上依次进行(1)GaN或AlN薄膜层的生长;(2)SiO2薄膜层的沉积;(3)Ni薄膜层的沉积并进行Ni薄膜层的退火处理,在Ni薄膜层的退火过程中,Ni薄膜自组装形成离散Ni颗粒;(4)SiO2薄膜层的刻蚀:以步骤(3)自组装形成的Ni颗粒为掩膜,刻蚀SiO2薄膜层,直至刻蚀面抵达GaN或AlN薄膜层;(5)Ni颗粒的腐蚀:腐蚀去除Ni颗粒后,GaN或AlN薄膜层上留下SiO2纳米柱;(6)GaN或AlN薄膜层的继续生长:GaN或AlN薄膜层继续外延生长且GaN或AlN薄膜层继续生长后的高度不高于SiO2纳米柱的高度;(7)SiO2纳米柱的腐蚀:腐蚀除去SiO2纳米柱,即得GaN或AlN纳米孔。本发明形成的纳米孔的界面要好,缺陷少。
技术领域
本发明属于氮化镓或氮化铝纳米结构制备技术领域,具体涉及一种氮化镓或氮化铝纳米孔的制备方法。
背景技术
氮化镓氮化铝纳米光电器件具有优良的诸多性能,纳米线、纳米孔等纳米结构的制备尤为关键,其制备流程通常需要复杂的光刻工艺,在面临纳米级尺寸时,甚至需要效率低且成本高昂的电子束曝光技术。
中国专利CN107978662A一种氮化镓纳米孔洞的制备方法,包括以下具体步骤:
(1)首先在衬底上镀一层氮化铝层,然后在氮化铝层上外延一层氮化镓层,之后在氮化 镓层上镀一层二氧化硅层;(2)在二氧化硅层上蒸镀金层,然后在金层上蒸镀一层镍金属层,将镍金属层一定温度 下退火处理0.5-3分钟,形成镍金属岛结构;(3)在镍金属层上蒸镀铂金金属层,使得镍金属岛结构的高度大于铂金金属层的厚度, 形成氮化镓晶体结构;(4)将氮化镓晶体结构浸泡在王水中2-5分钟,使得镍金属岛结构溶解于王水中,氮化镓晶体结构形成裸露金层的纳米孔洞;(5)采用一定的工艺刻蚀氮化镓晶体结构的纳米孔洞的金层、二氧化硅层及氮化镓层, 即得氮化镓纳米孔洞结构。
该专利通过王水腐蚀掉镍金岛,然后通过铂金的阻挡,刻蚀掉镍金岛处,形成孔洞。这种刻蚀的方式会导致所形成的纳米孔存在较多界面缺陷,而且其使用大量的贵金属,制备成本高。
发明内容
本发明针对现有技术中氮化镓或氮化铝纳米孔存在的缺陷,提供一种氮化镓或氮化铝纳米孔的制备方法,形成的纳米孔的界面要好,缺陷少。
本发明采用如下技术方案:
一种氮化镓或氮化铝纳米孔的制备方法,包括以下步骤:在蓝宝石衬底上依次进行(1)GaN或AlN薄膜层的生长;(2)SiO2薄膜层的沉积;(3)Ni薄膜层的沉积并进行Ni薄膜层的退火处理,在Ni薄膜层的退火过程中,Ni薄膜自组装形成离散Ni颗粒;(4)SiO2薄膜层的刻蚀:以步骤(3)自组装形成的Ni颗粒为掩膜,刻蚀SiO2薄膜层,直至刻蚀面抵达GaN或AlN薄膜层;(5)Ni颗粒的腐蚀:腐蚀去除Ni颗粒后,GaN或AlN薄膜层上留下SiO2纳米柱;(6)GaN或AlN薄膜层的继续生长:GaN或AlN薄膜层继续外延生长且GaN或AlN薄膜层继续生长后的高度不高于SiO2纳米柱的高度;(7)SiO2纳米柱的腐蚀:腐蚀除去SiO2纳米柱,即得GaN或AlN纳米孔。
优选地,步骤(1)所述GaN或AlN薄膜层的生长包括以下步骤:首先在蓝宝石衬底上生长GaN或AlN缓冲层并进行GaN或AlN缓冲层的退火处理,然后生长GaN或AlN外延层,由此GaN或AlN缓冲层和GaN或AlN外延层共同构成GaN或AlN薄膜层。
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