[发明专利]一种硬盘稳定性跌落测试方法、系统、终端及存储介质

说明书

本发明提供一种硬盘稳定性跌落测试方法、系统、终端及存储介质，包括：记录硬盘测试前的SMART日志中的初始坏块数量；通过FIO工具对硬盘持续施加压力；利用iostat‑xm 1记录硬盘在压力持续过程中的IO数据，并根据所述IO数据生成散点图，输出所述散点图；查询硬盘SMART日志中的坏块数量，并将所述坏块数量与初始坏块数量进行比对，得到并输出比对结果。本发明操作简便，具有较强易用性，程序中各模块之间结构清晰，便于维护。从程序运行后生成的散点图可以快速的判断有无跌落情况，实现了硬盘稳定性的检测确认，也提高了测试的效率。

技术领域

本发明涉及硬盘测试技术领域，具体涉及一种硬盘稳定性跌落测试方法、系统、终端及存储介质。

背景技术

在硬盘测试中，当新引进一款硬盘或者FW导入时，经常需要确认硬盘是否稳定，需要测试很长时间，才可以确认。目前服务器市场的HDD容量越来越大，要想对硬盘的稳定性进行追踪确认，需要花费很长时间。且整个过程产生大量的测试数据，需要测试人员对大量的测试数据进行分析，从而得到测试结果。费时费力。

发明内容

针对现有技术的上述不足，本发明提供一种硬盘稳定性跌落测试方法、系统、终端及存储介质，以解决上述技术问题。

第一方面，本发明提供一种硬盘稳定性跌落测试方法，包括：

记录硬盘测试前的SMART日志中的初始坏块数量；

通过FIO工具对硬盘持续施加压力；

记录硬盘在压力持续过程中的IO数据，并根据所述IO数据生成散点图，输出所述散点图；

查询硬盘SMART日志中的坏块数量，并将所述坏块数量与初始坏块数量进行比对，得到并输出比对结果。

进一步的，所述通过FIO工具对硬盘持续施加压力，包括：

在预设时间内向硬盘下发硬盘各块的顺序读参数；

在预设时间内向硬盘下发硬盘各块的顺序写参数；

在预设时间内向硬盘下发硬盘各块的混合读写参数。

进一步的，所述利用iostat-xm 1记录硬盘在压力持续过程中的IO数据，并根据所述IO数据生成散点图，输出所述散点图，包括：

记录硬盘在压力持续期间的每秒的IO数据；

利用绘制脚本实时根据记录的IO数据绘制散点图；

对所述散点图进行识别，判断所述散点图是否存在明显从散点趋势线跌落的散点：

是，则判定所述散点图所属硬盘存在稳定性跌落；

否，则判定所述硬盘稳定性正常。

进一步的，所述查询硬盘SMART日志中的坏块数量，并将所述坏块数量与初始坏块数量进行比对，得到并输出比对结果，包括：

判断所述坏块数量是否大于初始坏块数量：

是，则判定所述硬盘稳定性异常；

否，则判定所述硬盘稳定性正常。

第二方面，本发明提供一种硬盘稳定性跌落测试系统，包括：

初始记录单元，配置用于记录硬盘测试前的SMART日志中的初始坏块数量；

压力施加单元，配置用于通过FIO工具对硬盘持续施加压力；

散点作图单元，配置用于记录硬盘在压力持续过程中的IO数据，并根据所述IO数据生成散点图，输出所述散点图；