[发明专利]面向容错盲量子计算的量子纠错码制备方法在审

专利信息
申请号: 201910657187.5 申请日: 2019-07-19
公开(公告)号: CN110380824A 公开(公告)日: 2019-10-25
发明(设计)人: 李琼;赵强 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H04L9/08
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 高倩
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 制备 量子 量子计算 纠错码 相干光脉冲 辅助脉冲 量子态 测量 比特协议 二维平面 角度引导 量子信道 粒子 内存 发射
【权利要求书】:

1.面向容错盲量子计算的量子纠错码制备方法,其特征在于,所述方法包括:

S1、Alice通过量子信道发射N个随机的弱相干光脉冲及已知量子态的辅助脉冲序列给Bob;

S2、Bob根据远程盲制备量子比特协议,利用随机的弱相干光脉冲制备出Alice要求的未知态,并和已知辅助脉冲中的量子态进行纠缠,创造出二维平面内的多粒子纠缠图态,即brickwork state;

S3、Alice通过测量角度引导Bob对图态brickwork state进行基于测量的量子计算,制备出所需的量子纠错码。

2.根据权利要求1所述的面向容错盲量子计算的量子纠错码制备方法,其特征在于,所述S3中,Alice根据实际的测量基和图态brickwork state中获得的先前测量结果来计算Bob后续测量的测量基,进而实现Alice对Bob的引导计算。

3.根据权利要求2所述的面向容错盲量子计算的量子纠错码制备方法,其特征在于,所述S3包括:

S31、Alice计算位置(x,y)的量子比特的实际测量角度φx,y是真实的测量角度,其中x=1,...,n,y=1,...,m,n表示图态brickwork state的列数,m表示图态brickwork state的行数,是下角标小于(x,y)并且依赖X门的所有量子比特的校验和,是下角标小于(x,y)并且依赖Z门的所有量子比特的校验和,并随机的选取rx,y∈{0,1},将φ′x,y加密成δx,y,通过经典信道发送给Bob;(x,y)为起始值为(1,1);

S32、Bob根据测量基测量图态brickwork state中位于(x,y)位置的量子比特,通过经典信道将测量结果发送给Alice,所述测量结果为0或1;

S33、若Alice在所在位置上选取的rx,y=0,则测量结果不改变,若Alice选取的rx,y=1,则测量结果翻转,根据所述测量结果更新和转入S31计算下一位置的实际测量角度,直至制备出对Bob未知的量子纠错码。

4.根据权利要求3所述的面向容错盲量子计算的量子纠错码制备方法,其特征在于,所述S1中,辅助脉冲序列的偏振态为|+>,所述S2中还包括用Hadamard门对辅助量子比特|+>进行预处理,生成制备纠错码的初始态|0>。

5.根据权利要求4所述的面向容错盲量子计算的量子纠错码制备方法,其特征在于,图态brickwork state中用三个连续的CNOT门来代替SWAP门,从而实现非相邻量子比特行之间的量子计算。

6.根据权利要求5所述的面向容错盲量子计算的量子纠错码制备方法,其特征在于,所述图态brickwork state按照量子门的执行顺序被划分成许多层,使每个量子门操作都被分配到图态brickwork state上每一层的小块中。

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