[发明专利]极坐标格式成像的几何形变误差校正方法和装置有效

专利信息
申请号: 201910658812.8 申请日: 2019-07-19
公开(公告)号: CN110673142B 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 刘亚波;肖枚;刘霖;喻忠军 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S7/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 坐标 格式 成像 几何 形变 误差 校正 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种极坐标格式成像的几何形变误差校正方法,其特征在于,包括:

推导极坐标格式成像算法在任意斜视角下的几何形变误差公式;

利用所述极坐标格式成像算法得到成像图像;

根据所述几何形变误差公式对所述成像图像进行校正,得到校正后的图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,推导极坐标格式成像算法在任意斜视角下的几何形变误差公式,包括:

根据所述极坐标格式成像算法的原理,得到极坐标格式成像中目标斜距历程公式;

根据所述目标斜距历程公式,推导出所述任意斜视角下的几何形变误差公式。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述目标斜距历程公式,推导出所述任意斜视角下的几何形变误差公式,包括:

将所述目标斜距历程公式进行泰勒展开,得到所述目标斜距历程公式的泰勒展开式;

将所述目标斜距历程公式的泰勒展开式,在雷达偏离基准点的预设角度处,进行泰勒展开,并代入波数矢量系数,得到所述任意斜视角下的几何形变误差公式。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,将所述目标斜距历程公式的泰勒展开式,在雷达偏离基准点的预设角度处,进行泰勒展开,并代入波数矢量系数,得到所述任意斜视角下的几何形变误差公式,包括:

依次将所述目标斜距历程公式的泰勒展开式中的正弦公式和余弦公式,在所述预设角度处进行泰勒展开,并代入波数矢量系数,得到与所述正弦公式和余弦公式相对应的转换式;

根据所述转换式,得到所述任意斜视角下的几何形变误差公式。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据所述几何形变误差公式对所述成像图像进行校正,得到校正后的图像之前,所述方法还包括:

利用所述任意斜视角下的几何形变误差公式计算出所述成像图像中预设目标点的偏移距离,并与所述成像图像中呈现的预设目标点的偏移距离进行比较,验证所述任意斜视角下的几何形变误差公式的正确性。

6.一种极坐标格式成像的几何形变误差校正装置,其特征在于,包括:

公式获取单元,用于推导极坐标格式成像算法在任意斜视角下的几何形变误差公式;

成像图像获取单元,用于利用所述极坐标格式成像算法得到成像图像;

成像图像校正单元,用于根据所述几何形变误差公式对所述成像图像进行校正,得到校正后的图像。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述公式获取单元,包括:

斜距历程公式获取子单元,用于根据所述极坐标格式成像算法的原理,得到极坐标格式成像中目标斜距历程公式;

几何形变误差公式获取子单元,用于根据所述目标斜距历程公式,推导出所述任意斜视角下的几何形变误差公式。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述几何形变误差公式获取子单元,包括:

第一公式获取子单元,用于将所述目标斜距历程公式进行泰勒展开,得到所述目标斜距历程公式的泰勒展开式;

第二公式获取子单元,将所述目标斜距历程公式的泰勒展开式,在雷达偏离基准点的预设角度处,进行泰勒展开,并代入波数矢量系数,得到所述任意斜视角下的几何形变误差公式。

9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述第二公式获取子单元,包括:

公式转换子单元,依次将所述目标斜距历程公式的泰勒展开式中的正弦公式和余弦公式,在所述预设角度处进行泰勒展开,并代入波数矢量系数,得到与所述正弦公式和余弦公式相对应的转换式;

公式获取子单元,根据所述转换式,得到所述任意斜视角下的几何形变误差公式。

10.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

公式验证单元,连接于所述成像图像获取单元与成像图像校正单元之间,用于利用所述任意斜视角下的几何形变误差公式计算出所述成像图像中预设目标点的偏移距离,并与所述成像图像中呈现的预设目标点的偏移距离进行比较,验证所述任意斜视角下的几何形变误差公式的正确性。

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