[发明专利]PIN二极管及其形成方法、静电保护结构在审

专利信息
申请号: 201910661101.6 申请日: 2019-07-22
公开(公告)号: CN112289685A 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 马精瑞 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L29/868;H01L29/06
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤;高德志
地址: 230001 安徽省合肥市蜀山*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: pin 二极管 及其 形成 方法 静电 保护 结构
【权利要求书】:

1.一种PIN二极管的形成方法,其特征在于,包括:

提供基底;

在所述基底上形成第一半导体层,所述第一半导体层中掺杂有第一类型的掺杂离子;

在所述第一半导体层上形成第一本征层;

在所述第一本征层上形成第二半导体层,所述第二半导体层中掺杂有第二类型的掺杂离子,所述第一类型的掺杂离子与所述第二类型的掺杂离子的类型不同;

在所述第二半导体层上形成第二本征层;

在所述第二本征层表面上重复进行依次形成所述第一半导体层、所述第一本征层、所述第二半导体层和所述第二本征层的步骤。

2.如权利要求1所述的PIN二极管的形成方法,其特征在于,所述第一半导体层和所述第二半导体层的材料为硅、锗或硅锗。

3.如权利要求1或2所述的PIN二极管的形成方法,其特征在于,所述第一类型掺杂离子和所述第二类型的掺杂离子为N型掺杂离子或P型掺杂离子。

4.如权利要求2所述的PIN二极管的形成方法,其特征在于,所述第一本征层和所述第二本征层的材料相同,所述第一半导体层和所述第二半导体层的材料相同。

5.如权利要求1所述的PIN二极管的形成方法,其特征在于,重复进行依次形成所述第一半导体层、所述第一本征层、所述第二半导体层和所述第二本征层的步骤的次数至少为1次。

6.如权利要求1所述的PIN二极管的形成方法,其特征在于,将所有的所述第一半导体层电连接在一起作为PIN二极管的其中一个电极,将所有的所述第二半导体层连接在一起作为PIN二极管的另一个电极,形成并联模式的PIN二极管。

7.如权利要求1所述的PIN二极管的形成方法,其特征在于,将最底层的所述第一半导体层作为PIN二极管的其中一个电极,将最顶层的所述第二半导体层作为PIN二极管的另外一个电极,形成串联模式的PIN二极管。

8.如权利要求1所述的PIN二极管的形成方法,其特征在于,所述基底上或者基底中形成有隔离层,在所述隔离层上形成PIN二极管。

9.如权利要求1所述的PIN二极管的形成方法,其特征在于,所述第一本征层和所述第二本征层中杂质离子的浓度小于1E17/cm3,所述第一本征层和所述第二本征层中晶粒的尺寸小于0.4um,所述第一本征层和所述第二本征层的厚度为0.001~0.5mm。

10.一种PIN二极管,其特征在于,包括:

基底;

位于所述基底上的依次层叠的至少两层堆叠结构,每一层堆叠结构均包括:第一半导体层,所述第一半导体层中掺杂有第一类型的掺杂离子;位于所述第一半导体层上的第一本征层;位于所述第一本征层上的第二半导体层,所述第二半导体层中掺杂有第二类型的掺杂离子,所述第一类型的掺杂离子与所述第二类型的掺杂离子的类型不同;位于所述第二半导体层上的第二本征层。

11.如权利要求10所述的PIN二极管,其特征在于,所述第一半导体层和所述第二半导体层的材料为硅、锗或硅锗。

12.如权利要求10或11所述的PIN二极管,其特征在于,所述第一类型掺杂离子和所述第二类型的掺杂离子为N型掺杂离子或P型掺杂离子。

13.如权利要求10所述的PIN二极管,其特征在于,所述第一本征层和所述第二本征层的材料相同,所述第一半导体层和所述第二半导体层的材料相同。

14.如权利要求10所述的PIN二极管,其特征在于,将所有的所述第一半导体层电连接在一起作为PIN二极管的其中一个电极,所有的所述第二半导体层连接在一起作为PIN二极管的另一个电极,形成并联模式的PIN二极管。

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