[发明专利]恒温晶体振荡器老化自动测试系统有效
申请号: | 201910663989.7 | 申请日: | 2019-07-23 |
公开(公告)号: | CN110514900B | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 韩文博;任勇森;贾伟琦;白毅;赵斌;刘文雅;刘搏 | 申请(专利权)人: | 河北远东通信系统工程有限公司 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02;G01R31/00 |
代理公司: | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人: | 王文庆 |
地址: | 050200 河北省石家庄市鹿泉*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 恒温 晶体振荡器 老化 自动 测试 系统 | ||
1.一种恒温晶体振荡器老化自动测试系统,包含一个总老化测试箱、多个分老化测试箱、控制计算机、开关电源、频率计数器及铷原子钟,其特征在于:所述总老化测试箱包含多个主测试电路板、多个一级副测试电路板和一个三级副测试电路板;分老化测试箱包含多个主测试电路板、多个一级副测试电路板和一个二级副测试电路板;主测试电路板上安装有多个恒温晶体振荡器;
控制计算机:用于向总老化测试箱的三级副测试电路板发送控制指令;还用于控制频率计数器的测量及数据读取,并根据恒温晶体振荡器的频率变化计算出老化指标并自动生成挑选文件,并将开关电源电压值存储至测试文件中;
总老化测试箱和分老化测试箱:分别用于安装放置所有的主测试电路板和副测试电路板及开关电源;
主测试电路板:插装于相应的老化测试箱内一级、二级或三级副测试电路板上,用于安装被测试的恒温晶体振荡器,将恒温晶体振荡器的频率信号导通至相应的一级、二级或三级副测试电路板;
分老化测试箱的一级副测试电路板:用于接收到控制指令后控制相应的主测试电路板将所选通道恒温晶体振荡器的频率信号导通至相应的一级副测试电路板,再通过同轴线连接至二级副测试电路板;还用于根据控制指令采集并计算出开关电源电压值,将电压值通过串口线传输至控制计算机;还用于根据控制指令实现开关电源电压值的调整;还用于根据控制指令实现恒温晶体振荡器压控电压的调整;还用于监测恒温晶振供电开关电源电压值,实现超压断电的功能;
主老化测试箱一级副测试电路板:用于接收到控制指令后控制相应的主测试电路板将所选通道恒温晶体振荡器的频率信号导通至相应的一级副测试电路板,再通过同轴线连接至三级副测试电路板;还用于根据控制指令采集并计算出开关电源电压值,将电压值通过串口线传输至控制计算机;还用于根据控制指令控制开关电源输出电压值;还用于根据控制指令实现恒温晶体振荡器压控电压的调整;还用于监测开关电源电压值,实现超压断电的功能;
二级副测试电路板:用于接收到控制指令后控制相应的主测试电路板将所选通道恒温晶体振荡器的频率信号导通至二级副测试电路板;还用于接收所有分老化测试箱一级副测试电路板输出的频率信号,并选择相应的频率信号通过同轴线连接至三级副测试电路板;还用于根据控制指令采集并计算出开关电源电压值,将电压值通过串口线传输至控制计算机;还用于根据控制指令实现开关电源电压值的调整;还用于根据控制指令实现恒温晶体振荡器压控电压的调整;还用于监测开关电源电压值,实现超压断电的功能;
三级副测试电路板:用于通过串口线与计算机相连,计算机的控制指令经通信电平转换后连接至总老化测试箱及分老化测试箱内所有的一级、二级副测试电路板;还用于根据控制指令控制相应的主测试电路板将所选通道恒温晶体振荡器的频率信号导通至三级副测试电路板,并接收总老化测试箱所有一级副测试电路板的频率输出信号以及分老化测试箱二级副测试电路板的频率输出信号,选择相应频率输出信号通过同轴线连接至频率计数器;还用于根据控制指令采集并计算出开关电源电压值,将电压值通过串口线传输至控制计算机;还用于根据控制指令实现开关电源电压值的调整;还用于根据控制指令实现恒温晶体振荡器压控电压的调整;
开关电源:用于为恒温晶体振荡器及整个老化自动测试系统供电;
频率计数器:测试输入接口通过同轴线与三级副测试电路板相连,外部频率标准输入接口通过同轴线与铷原子钟相连,通过串口线、USB线或者网线与控制计算机相连,用于测量恒温晶体振荡器的频率值,并将频率值传送至控制计算机;
铷原子钟:通过同轴线与频率计数器相连,为频率计数器提供外部频率标准。
2.如权利要求1所述的一种恒温晶体振荡器老化自动测试系统,其特征在于:所述老化测试箱体主体内含保温材料,箱体前面板设有前双开门,箱体后面板设有后双开门,箱体底部设有两层可伸缩滑轨,每层可伸缩滑轨上装有开关电源支架,每层电源支架上安装多台开关电源。
3.如权利要求1所述的一种恒温晶体振荡器老化自动测试系统,其特征在于:所述总老化测试箱和分老化测试箱内部包含副测试电路板支架和主测试电路板支架,主测试电路板支架为多层,每层放置多块主测试电路板,每个总老化测试箱和分老化测试箱的主测试电路板与副测试电路板个数相同。
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