[发明专利]一种带孔结构元件低周疲劳性能的试验方法

权利要求书

1.一种带孔结构元件低周疲劳性能的试验方法，其特征在于：所述的试验方法将带孔结构元件放入疲劳测试系统，采用应变控制模式，通过控制带孔结构元件最小截面积尺寸及孔径，测得带孔结构元件不同应变幅值的疲劳寿命；

所述的带孔结构元件通过以下方法确定：

步骤一、参照实际所应用的结构件确定带孔结构元件的厚度与孔径值；带孔结构元件的孔径为5-8mm；

步骤二、建立带孔结构元件低周疲劳过程数值分析模型；

步骤三、应用有限元法进行试样等效应力应变关系计算，得到带孔试样孔径周围应力应变分布特征，结合标准试样的标距并满足以下条件：

确保应力集中发生在标距范围内的孔径周围最小截面处以及在压应力疲劳载荷作用情况下不能失稳，从而确定标距与标距内的宽度；

步骤四、根据所述带孔结构元件的尺寸值计算获得最小截面积尺寸。

2.根据权利要求1所述的带孔结构元件低周疲劳性能的试验方法，其特征在于：步骤一中带孔结构元件的厚度与所应用的结构件厚度一致。

3.根据权利要求1所述的带孔结构元件低周疲劳性能的试验方法，其特征在于：步骤三中还包括运用有限元分析计算带孔结构元件在不同应变幅值的低周疲劳试验条件下所需要施加的载荷值。

4.根据权利要求1所述的带孔结构元件低周疲劳性能的试验方法，其特征在于：步骤二中建模软件为AutoCAD、Catia、UG、ProE中的任一种。

5.根据权利要求1所述的带孔结构元件低周疲劳性能的试验方法，其特征在于：步骤三中有限元软件为Abaqus或者MSC.Fatigue。

6.根据权利要求1所述的带孔结构元件低周疲劳性能的试验方法，其特征在于：在测得元件不同应变幅值的疲劳寿命之后，还包括建立带孔元件低周疲劳寿命预测模型的过程，具体为：

通过测试获得的所述带孔结构元件低周疲劳S-N曲线，拟合带孔元件孔径与低周疲劳寿命的关系曲线，建立带孔元件低周疲劳寿命预测模型。