[发明专利]一种光学镜片折射率的无损检测方法

说明书

本发明公开了一种光学镜片折射率的无损检测方法，包括如下步骤：安装固定架，将光学镜片水平固定在固定架上，在固定架上通过调节支架固定安装照射光源，调节支架使照射光源与水平面呈一定的角度，打开照射光源开关，光线以某一倾斜角度射向镜片，通过测量仪器，测量出光线的入射角度、光线的折射角、镜片基底厚度、空气折射率和镜片基底的折射率，根据测量的函数参数，通过光学计算公式，得到折射率与反射比的函数关系，建立Cauchy光散模型，对镜片折射率色散进行测量，使用光学测量仪器对镜片的反射比进行测量，每隔5分钟测量一组光谱反射比，测量20‑30组数据，根据测量的数据，通过对数据处理，确定光学镜片的折射率。

技术领域

本发明涉及光学镜片测定领域，尤其涉及一种光学镜片折射率的无损检测方法。

背景技术

目前测量镜片折射率主要采用最小偏向脚法、阿尔折射器临界角度法以及V形棱镜法等方法。最小偏向法要将样品制成要求较高的三棱镜，然后光线通过三棱镜发生折射，寻找入射光与折射光线夹角的最小值，在进行折射率计算，可采用精密测角仪和分光计进行最小偏向角的测量；阿贝折射仪临界角度法需要将镜片做成试样，将被测试样与一已知折射率的折射棱镜贴在一起，根据全反射临界角求得试样底的折射率；V形棱镜法需要将被测镜片样品磨出两个90度的平面，放入V棱镜的V形缺口内，通过测量光线偏移角度来测量镜片的折射率。对于已经镀膜的镜片来说，使用这些方法都需要将已经镀膜的镜片进行脱模处理，然后将镜片制备成样块，在制备时对样块的厚度、角度、平整度和光洁度等参数均有一定的要求，采用上述各种方法在检测结束后，镜片膜层被损毁，镜片已不可在使用。

发明内容

本发明提出了一种光学镜片折射率的无损检测方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

本发明提出了一种光学镜片折射率的无损检测方法，包括如下步骤：

S1：安装固定架，将光学镜片水平固定在固定架上，在固定架上通过调节支架固定安装照射光源；

S2：仪器安装固定后，调节支架，使得照射光源与水平面呈一定的角度，打开照射光源开关，光线以某一倾斜角度射向镜片，形成入射角，光线在镜片上发生折射，折射光线穿过镜片，与镜片之间形成折射角，通过测量仪器，测量出光线的入射角度、光线的折射角、镜片基底厚度、空气折射率和镜片基底的折射率；

S3：根据S2中测量的函数参数，通过光学计算公式，得到折射率与反射比的函数关系；

S4：建立Cauchy光散模型，对镜片折射率色散进行测量，分析镜片折射率色散的规律；

S5：使用光学测量仪器对镜片的反射比进行测量，每隔5分钟测量一组光谱反射比，测量20-30组数据；

S6：根据测量的数据，通过对数据处理，确定光学镜片的折射率。

优选的，所述S1中，调节支架的顶端转动连接有遮光板，遮光板的另一侧搭接在固定架上，遮光板的面积大于固定架，在检测的过程中，转动遮光板，遮挡板将照射光源遮盖，此时，外部光源无法照射到镜片上，镜片上的入射光由照射光源提供，最大程度的避免外部光线影响照射光源的照射效果，减小测量误差，使镜片的折射率测量更加精确。

优选的，所述S1中，照射光源为白光光源，且照射光源上设有照射光强度调节装置，通过转动调节装置，改变照射光源的光照强度，使得照射光的入射光明亮，在经过镜片折射后，折射光线较亮，便于入射角和折射角角度的测量，减小测量误差，提高测量精度。

优选的，所述S3中，折射率与反射比的函数关系是通过反射比计算公式和菲涅尔原理所得出，为基底的反射比与折射率、入射角以及消光系数的函数。

优选的，所述S4中，Cauchy光散模型是镜片折率和消光系数函数关系，根据镜片的材料类型，可以得出镜片的折射率范围值和消光系数的范围值，画出镜片折射率色散的曲线图，方便对数据进行分析。