[发明专利]电磁超声横波测厚探头

说明书

本申请公开了一种电磁超声横波测厚探头，包括：外壳单元；设置在外壳单元内部的两个磁体；激励接收单元，包括设置在外壳单元两外侧的两个L型线圈骨架、固定在每个L型线圈骨架底面且分别与一个磁体位置相对应的两个线圈、设置于L型线圈骨架的侧面与外壳单元接触位置的弹簧、固定L型线圈骨架与外壳单元侧面且可调节旋入外壳单元长度的调节螺栓；所述弹簧，用于压紧所述调节螺栓的头部和L型线圈骨架；所述两个线圈中每个线圈的一端同时与电磁超声仪器连接，用于接收电磁超声仪器输入的激励信号，以及向电磁超声仪器反馈回波信号，以供电磁超声仪器根据回波信号确定被测构件的厚度。本申请可以提高测厚精度。

技术领域

本申请涉及超声无损检测技术领域，尤其涉及一种电磁超声横波测厚探头。

背景技术

本部分旨在为权利要求书中陈述的本发明实施例提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

电磁超声是一种应用在无损检测领域的新技术，其通过电磁耦合在金属构件中激励出超声波同时接收回波信号，以探究金属构件的内部情况，能很好地反映金属构件的厚度信息。电磁超声与传统的超声检测技术相比，具有精度高、不需要耦合剂等优点，因此在工业生产中得到广泛的应用。如专利CN 201510342382.0公开了一种横波直入射电磁超声传感器，该横波直入射电磁超声传感器通过设置圆柱形磁铁产生磁场，同时在下部设置环形线圈实现对电磁超声信号的激励与接收。该横波直入射电磁超声传感器在小提离下能实现对厚度的测量，但当提离增大时，由于磁场强度的水平分布出现变化，固定的线圈将不再处于最强的磁场区域，导致测厚精度降低。

发明内容

本申请实施例提供一种电磁超声横波测厚探头，用以提高测厚精度，该电磁超声横波测厚探头包括：

外壳单元；设置在外壳单元内部的两个磁体3，两个磁体3相对于外壳单元底面的位置不同；激励接收单元，包括设置在外壳单元两外侧的两个L型线圈骨架5、固定在每个L型线圈骨架5底面且分别与一个磁体3位置相对应的两个线圈7、设置于L型线圈骨架5的侧面与外壳单元接触位置的弹簧10、将L型线圈骨架5的侧面与外壳单元固定的调节螺栓9；其中，所述调节螺栓9旋入外壳单元的深度可调节；所述弹簧10，用于压紧所述调节螺栓9的头部和L型线圈骨架5；所述两个线圈7中每个线圈7的一端同时与电磁超声仪器连接，用于接收电磁超声仪器输入的激励信号，以及向电磁超声仪器反馈回波信号，以供电磁超声仪器根据回波信号确定被测构件的厚度；其中，所述回波信号是处于磁体3磁场中的线圈7感应超声横波的回波产生的，所述超声横波的回波是处于磁体3磁场中的被测构件在激励信号的作用下振动产生的超声横波传播到被测构件底部反射得到的。

本申请实施例中，调节螺栓旋入外壳单元的深度可调节，弹簧压紧调节螺栓的头部和L型线圈骨架，当调节螺栓旋入外壳单元的深度增大或减小时，在弹簧压力作用下，L型线圈骨架随调节螺栓深度的改变而水平移动，从而使得线圈相对于磁体的位置改变，这样在提离改变导致磁场强度的分布出现变化时，能够通过调节线圈的位置而使线圈处于磁场强度最大的最佳激励接收位置，提升测厚精度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1为本申请实施例中电磁超声横波测厚探头的主剖视图；

图2为本申请实施例中电磁超声横波测厚探头的右视图；

图3为本申请实施例中电磁超声横波测厚探头的左视图；

图4为本申请实施例中电磁超声横波测厚探头的俯视图；

图5为利用本申请实施例中电磁超声横波测厚探头测厚时得到的信号波形图。

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