[发明专利]屏幕显示状态检测方法、装置、终端设备及可读存储介质有效
申请号: | 201910670697.6 | 申请日: | 2019-07-23 |
公开(公告)号: | CN110351549B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 吴雪峰;雷登似;高文周;潘德灼 | 申请(专利权)人: | TCL王牌电器(惠州)有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 宋朝政 |
地址: | 516006 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 屏幕 显示 状态 检测 方法 装置 终端设备 可读 存储 介质 | ||
1.一种屏幕显示状态检测方法,其特征在于,所述屏幕显示状态的检测方法包括以下步骤:
获取终端设备屏幕的第一检测图像,并对所述第一检测图像进行滤波处理,得到第二检测图像;
根据预设的分割阈值对所述第二检测图像进行分割,以标记出所述第二检测图像中的参照点,得到标记后的第三检测图像,其中,参照点为亮度值满足预设参照点标准的像素点;
通过高斯掩膜卷积处理所述第三检测图像,以确定所述第三检测图像上是否存在参照直线,其中,参照直线为第三检测图像中满足预设参照直线标准的直线;
若确定所述第三检测图像上存在所述参照直线,则在所述第三检测图像中标记出所述参照直线;
所述通过高斯掩膜卷积处理所述第三检测图像,以确定所述第三检测图像上是否存在参照直线的步骤包括:
对所述第三检测图像中的待处理图像部分进行高斯卷积处理得到所述待处理图像部分各个像素点的像素值,其中,所述待处理图像部分是所述第三检测图像的全部或者局部区域;
计算所述第三检测图像中直线上的参照点的占比;其中,当所述第三检测图像是第三暗点检测图像时,将所述第三暗点检测图像中直线上像素值小于预设的第一像素值的像素点作为第二暗点,并计算所述直线上第二暗点个数与所述直线上像素点总数的比值,得到所述直线上暗点的占比;当所述第三检测图像是第三亮点检测图像时,将所述第三亮点检测图像中直线上像素值大于预设的第二像素值的像素点作为第二亮点,并计算所述直线上第二亮点个数与所述直线上像素点总数的比值,即得到所述直线上亮点的占比;
若所述占比大于或者等于预设的比例参数,则确定所述第三检测图像上存在参照直线。
2.如权利要求1所述的屏幕显示状态检测方法,其特征在于,所述若确定所述第三检测图像上存在所述参照直线,则在所述第三检测图像中标记出所述参照直线的步骤之后,还包括:
确定所述第三检测图像中参照点对应的参照点位置;
输出所述参照点位置的位置信息。
3.如权利要求1所述的屏幕显示状态检测方法,其特征在于,所述获取终端设备屏幕的第一检测图像,并对所述第一检测图像进行滤波处理,得到第二检测图像的步骤包括:
获取终端设备屏幕的第一检测图像,对所述第一检测图像进行频域处理以及傅里叶变换,以去除所述第一检测图像中的噪声,得到所述第一检测图像的第一子图像;
对所述第一子图像进行滤波处理,得到第二检测图像。
4.如权利要求3所述的屏幕显示状态检测方法,其特征在于,所述对所述第一子图像进行滤波处理,得到第二检测图像的步骤包括:
根据预设的滤波阈值,对所述第一子图像进行中值滤波处理,以去除所述第一子图像中的椒盐噪声,得到所述第一检测图像的第二子图像;
根据预设的平滑阈值,对所述第二子图像进行平滑处理,得到第二检测图像。
5.如权利要求1所述的屏幕显示状态检测方法,其特征在于,所述获取终端设备屏幕的第一检测图像的步骤之前,还包括:
调取预存的原始检测画面;
根据预设曝光时间,拍摄所述原始检测画面,得到第一检测图像。
6.如权利要求1至4任一项所述的屏幕显示状态检测方法,其特征在于,所述参照点为暗点和亮点,所述暗点为亮度值小于预设的第一预设亮度值的像素点,所述亮点为亮度值大于预设的第二预设亮度值的像素点。
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