[发明专利]控制电路及芯片

权利要求书

1.一种控制电路，其特征在于，所述控制电路包括芯片，所述芯片包括一复用引脚；所述复用引脚耦接热敏元件的第二端，所述热敏元件的第一端分别耦接第一分压电阻的第二端和第二分压电阻的第一端，所述第一分压电阻的第一端耦接辅助绕组；

在第一状态下，所述芯片通过所述复用引脚耦接所述热敏元件，从而判定电路系统的温度状态，实现芯片的过温保护检测；

在第二状态下，所述芯片通过所述复用引脚耦接第一分压电阻、第二分压电阻，实现输出电压的过压保护检测、欠压保护检测以及消磁检测中的至少一个。

2.根据权利要求1所述的控制电路，其特征在于：

所述芯片包括过温检测模块，所述过温检测模块包括电流源、第一开关S1、第一比较器U1和电源V1；

所述电流源的输出端耦接第一开关S1的第一端，所述第一开关S1的第二端分别耦接所述复用引脚和第一比较器U1的正相输入端，所述电源V1的正极耦接所述第一比较器U1的反相输入端，所述第一比较器U1的输出端耦接过温保护模块。

3.根据权利要求1所述的控制电路，其特征在于：

所述控制电路还包括第三电阻R3或/和第一二极管D1；所述第三电阻R3或/和第一二极管D1与热敏元件并联设置。

4.根据权利要求2所述的控制电路，其特征在于：

所述过温检测模块还包括计时器，所述第一比较器U1的输出端耦接计时器的第一端，所述计时器的第二端耦接过温保护模块。

5.根据权利要求2所述的控制电路，其特征在于：

所述芯片还包括过压/欠压检测模块和消磁检测模块；

所述过压/欠压检测模块包括第一电容C1、第二开关S2和过压/欠压检测电路，所述第二开关S2的第一端耦接所述复用引脚，所述第二开关S2的第二端分别耦接所述第一电容C1的第一端和过压/欠压检测电路；

所述消磁检测模块包括前沿消隐电路LEB和消磁检测电路，所述前沿消隐电路LEB的第一端耦接复用引脚，所述前沿消隐电路LEB的第二端耦接消磁检测电路。

6.根据权利要求5所述的控制电路，其特征在于：

所述过压/欠压检测电路用以将所述复用引脚的电压Vdem与设定过压OVP电压、欠压UVP电压比较，从而实现过压/欠压保护检测；

所述消磁检测电路用以获取所述复用引脚的电压Vdem，在Vdem<0时，实现消磁检测功能。

7.根据权利要求5所述的控制电路，其特征在于：

所述第一开关S1、第二开关S2互补设置，即在第一开关S1断开时，第二开关S2闭合；在第一开关S1闭合时，第二开关S2断开；

在第二开关S2导通、第一开关S1关断期间，所述芯片实现过压/欠压保护检测；

在第一开关S1导通、第二开关S2关断期间，第一比较器U1的正相输入端由于电流源I0在复用引脚上产生一个电压增量dV，以实现过温保护检测。

8.根据权利要求7所述的控制电路，其特征在于：

所述第一开关S1每间隔若干个开关周期导通一次。

9.一种芯片，其特征在于，所述芯片包括一复用引脚；

在第一状态下，所述芯片通过所述复用引脚耦接一热敏元件，从而判定电路系统的温度状态，实现芯片的过温保护检测；

在第二状态下，所述芯片通过所述复用引脚耦接第一分压电阻、第二分压电阻，实现输出电压的过压保护检测、欠压保护检测及消磁检测中的至少一个；

所述芯片包括过温检测模块，所述过温检测模块包括电流源、第一开关S1、第一比较器U1和电源V1；

所述电流源的输出端耦接第一开关S1的第一端，所述第一开关S1的第二端分别耦接所述复用引脚和第一比较器U1的正相输入端，所述电源V1的正极耦接所述第一比较器U1的反相输入端，所述第一比较器U1的输出端耦接过温保护模块。