[发明专利]一种SF6气体绝缘缺陷下碳氟分解产物分析方法

说明书

本发明公开了一种SF6气体绝缘缺陷下碳氟分解产物分析方法，所述方法包括如下步骤：选取原料气，并对所述原料气进行纯度测试；基于原料气的纯度测试结果通过称量法配制标准气体；对配置的标准气体进行浓度计算；通过气相色谱仪分析标准气体特征量值的稳定性。采用本发明的SF6气体绝缘缺陷下碳氟分解产物分析方法能够实现对SF6气体绝缘缺陷下碳氟分解产物的分析。

技术领域

本发明涉及六氟化硫技术领域，特别是一种SF6气体绝缘缺陷下碳氟分解产物分析方法。

背景技术

SF₆气体由于其优良的绝缘和灭弧性能而广泛应用于气体绝缘设备中。然而，SF₆气体绝缘设备(简称SF₆电气设备，如气体绝缘组合电器GIS、气体绝缘断路器GCB、气体绝缘变压器GIT以及气体绝缘线路或管道GIL等)在制造、运输、安装、检修和运行等过程中，内部不可避免地会出现各种绝缘缺陷，如导体上的金属毛刺、部件松动或接触不良、导体与支撑绝缘子剥离形成的气隙、检修后的遗留物以及腔体内的金属微粒等，这些都会使SF₆设备内部形成不同程度的绝缘缺陷，从而导致设备内部电场发生畸变，进而产生局部放电(PD)。当出现严重的PD时，一方面，PD会加快对设备内部绝缘的进一步破坏，最终导致绝缘故障造成停电事故，对运行中的SF₆设备是一种潜在的隐患，有绝缘“肿瘤”之称；另一方面，PD又是有效表征绝缘状况的特征量，通过对SF₆电气设备的PD进行检测并进行模式识别，可以在很大程度上发现SF₆设备内部存在的绝缘缺陷及类型。

而当前还缺乏SF6气体绝缘缺陷下碳氟分解产物标准物质研究的方案。

发明内容

有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明的目的就是提供一种SF6气体绝缘缺陷下碳氟分解产物分析方法，实现SF6气体绝缘缺陷下碳氟分解产物的分析。

本发明的目的之一是通过这样的技术方案实现的，一种SF6气体绝缘缺陷下碳氟分解产物分析方法，所述方法包括如下步骤：

选取原料气，并对所述原料气进行纯度测试；

基于原料气的纯度测试结果通过称量法配制标准气体；

对配置的标准气体进行浓度计算；

通过气相色谱仪分析标准气体特征量值的稳定性。

可选的，所述原料气包括氦气，六氟化硫气体，六氟乙烷和八氟丙烷；

所述对所述原料气进行纯度测试包括：

分别对原料气进行纯度测试以确定原料气的纯度值和纯度的不确定度。

可选的，所述基于原料气的纯度测试结果通过称量法配制标准气体，包括：

选取气体钢瓶，并对所述气体钢瓶进行真空清洗；

对真空清洗之后的气体钢瓶进行第一次称重，并在称重之后向气体钢瓶内注入原料气；

对注入原料气的气体钢瓶进行第二次称重，在第二次称重后向注入原料气的气体钢瓶充入平衡气；

对充入平衡气体的气体钢瓶进行第三次称重。

可选的，在称量需求大于1.5g的情况下选用单盘电子天平或双臂天平称重，在称量需求小于1.5g的情况下选用高精度的小量程天平称重。

可选的，采用所述单盘电子天平进行称重满足的称重模型为：

w＝e(Δm_j-Δm_j-1)+KΔPρ_air+δVρ_air+ΔL