[发明专利]一种显示屏亮度测量方法、系统及终端有效
申请号: | 201910679396.X | 申请日: | 2019-07-26 |
公开(公告)号: | CN110232885B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 轩慎振;张胜森;杨攀 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 赵伟 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示屏 亮度 测量方法 系统 终端 | ||
本发明公开了一种显示屏亮度测量方法、系统及终端,该方法包括以下步骤:S1:获取显示屏在不同工作距离下显示不同灰阶画面时的拍摄图像,并计算每一张拍摄图像的亮度信息;S2:根据不同拍摄图像的亮度信息建立显示屏在不同工作距离、不同灰阶下与对应亮度之间的校正模型;S3:获取显示屏在任一工作距离下显示任一灰阶画面时的拍摄画面,并计算所述拍摄画面的第一亮度值;S4:根据所述工作距离、灰阶画面的灰阶值以及所述校正模型对显示屏的第一亮度值进行校准,得到校正亮度值;本发明消除了显示屏的工作距离和灰阶值造成的相机采集数据的偏差,提高了相机取像的准确性,从而提高了显示屏亮度色度测量的准确性。
技术领域
本发明属于显示技术领域,更具体地,涉及一种显示屏亮度测量方法、系统及终端。
背景技术
由于工艺、制程以及原材料的差异,平板显示器的生产过程中不可避免的会出现亮度和色度的差异。为了管控品质,面板生产商会对生产出来的显示器进行亮度和色度的测量。传统测量色度亮度的方法是:采用符合CIE标准响应曲线的设备,如亮度计,对待测面板的光谱进行积分,得到色度和亮度值;这种专用设备对亮度色度的测量精度较高,但是专用设备每次只能测量一个或几个像素点的亮度值,使用不方便,实际需求中,往往需要测量显示屏上每个像素点的色度及亮度值;如果使用专用设备则检测时间长、效率低;此外,这种专用设备成本往往很高,不能大量推广使用。
除了亮度计等专用设备之外,面阵色度计也是目前用于显示屏亮度色度检测的常用设备之一;面阵色度计是一款集成高精度专业信号发生器、标准光学测量仪器和控制调节软件于一体的色度亮度测量系统;与亮度计相比,面阵色度计的优点在于它可以一次性测量显示屏上每个像素点的色度及亮度值,因此检测速度快;但是面阵色度计也存在明显的缺陷,检测时首先由面阵CCD相机拍摄显示屏图像,然后根据拍摄图像计算亮度色度值,但是由于不同显示屏的发光特性不同,CCD相机拍摄的图像受工作距离和灰阶画面影响较大,即对于亮度绝对均匀的显示屏,在不同工作距离下相机拍摄的图像是不均匀的;在同一工作距离、不同灰阶画面下相机拍摄的图像亮度均匀性趋势也是不一致的,造成面阵CCD相机采集数据有很大偏差,导致后续的亮度色度计算结果出现偏差,影响色度亮度的测量精度。
综上所述,现有的色度亮度测量设备存在无法兼顾测量精测与测量效率的问题。
发明内容
针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求,本发明提供了一种显示屏亮度测量方法、系统及终端,首先建立显示屏在不同工作距离、不同灰阶下与对应亮度之间的校正模型,通过该校正模型对相机拍摄亮度进行校正,消除显示屏的工作距离以及灰阶值的影响,提高显示屏亮度测量的准确性;此外,建立了专用检测设备的测量亮度与经校正后的相机拍摄亮度之间的映射关系模型;然后根据该映射关系模型将相机拍摄的显示屏的亮度值转换为专用检测设备测量得到的具有更高精度的亮度值;通过此方法,不仅可以一次获取显示屏上所有像素点的亮度值,还可以将该亮度值转换为专用检测设备测量得到的具有更高精度的亮度值,在保证检测效率的前提下进一步提高了测量精度;其目的在于解决现有技术中的显示屏亮度色度检测方法无法兼顾检测效率与测量精度的问题。
为实现上述目的,按照本发明的一个方面,提供了一种显示屏亮度测量方法,包括以下步骤:
S1:获取显示屏在不同工作距离下显示不同灰阶画面时的拍摄图像,并计算每一张拍摄图像的亮度信息;
S2:根据不同拍摄图像的亮度信息建立显示屏在不同工作距离、不同灰阶下与对应亮度之间的校正模型;
S3:获取显示屏在任一工作距离下显示任一灰阶画面时的拍摄画面,并计算所述拍摄画面的第一亮度值;
S4:根据所述工作距离、灰阶画面的灰阶值以及所述校正模型对显示屏的第一亮度值进行校准,得到校正亮度值。
优选的,上述显示屏亮度测量方法,还包括以下步骤:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司,未经武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910679396.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。