[发明专利]一种关于内存ADDDC功能的测试方法、系统及设备

说明书

本发明提出的一种关于内存ADDDC功能的测试方法、系统及设备，主要用于服务器内存ADDDC功能测试，通过模拟内存故障情形，验证ADDDC功能是否正常。即可提高测试效率，提高测试质量也同时节约测试时间和成本。

技术领域

本发明涉及计算机网络技术领域，更具体的说是涉及一种关于内存ADDDC功能的测试方法、系统及设备。

背景技术

ADDDC是一种自适应双DRAM设备更正技术，用于管理DDR4DRAM DIMM可能在产品使用寿命期间诱发的错误，ADDDC(MR)可以纠正连续的两个DRAM故障。如果该区域的第二个设备发生故障，仍然支持可修复错误检测和纠正，并允许系统继续运行。

ADDDC的出现，内存子系统通常配置为以性能模式运行。当DRAM设备的更正数量达到目标阀值，所识别的故障DRAM区域将在UEFI运行时代码的帮助下自适应地被放置在锁步模式下，以便从ECC中标记出DRAM设备的故障区域。持续在DIMM上提供SDDC ECC覆盖，进而延长DIMM的使用寿命。这一操作通常在DRAM Bank和/或Rank的精细化过程中进行，以便对整个系统性能产生的影响达到最小。

因此，为了保证ADDDC的稳定执行，亟需一种ADDDC功能的测试方法，用于服务器出厂时验证ADDDC功能。

发明内容

针对以上问题，本发明的目的在于提供一种关于内存ADDDC功能的测试方法、系统及设备，通过模拟内存故障情形，验证ADDDC功能是否正常。

本发明为实现上述目的，通过以下技术方案实现：一种关于内存ADDDC功能的测试方法，包括：

进入被测试机台的Set up下，配置测试环境参数，并重启系统；

指定被测试机台的内存设备寄存器地址并向其注入可修复错误并查看系统日志和BMC日志中的错误记录日志；

如果系统没有因为内存故障异常，且所述注入的可修复错误在BMC日志中的错误记录日志中已被记录，则测试成功。

进一步，所述进入被测试机台的Set up下，配置测试环境参数包括：

设置ADDDC sparing及SDDC plus one为Enabled；

设置Correctable Error Threshold为1；

设置System Errors为Enable；

设置WHEA Support为Enable；

设置WHEA Error Injection为Enable。

进一步，所述指定被测试机台的内存设备寄存器地址并向其注入可修复错误并查看系统日志和BMC日志中的错误记录日志包括：

指定内存设备寄存器的第一地址并给内存的第一Bank注入可修复错误，所述可修复错误达到阈值触发Bank virtual lockstep；

查看系统日志中的内存故障异常记录，查看系统日志及BMC日志中记录ADC BankVLS日志。

进一步，所述指定被测试机台的内存设备寄存器地址并向其注入可修复错误并查看系统日志和BMC日志中的错误记录日志还包括：

指定内存设备寄存器的第二地址并给内存的第二Bank注入可修复错误，所述可修复错误达到阈值触发Rank virtual lockstep；

查看系统日志中的内存故障异常记录，查看系统日志及BMC日志中记录ADC RankVLS日志。

进一步，所述指定被测试机台的内存设备寄存器地址并向其注入可修复错误并查看系统日志和BMC日志中的错误记录日志还包括：