[发明专利]通信测试方法、装置、存储介质及电子设备

说明书

本公开涉及一种通信测试方法、装置、存储介质及电子设备，以减少NB‑IoT下行综测的耗时，提高测试效率。该通信测试方法应用于窄带物联网NB‑IoT中的用户设备，包括：确定所述用户设备接收到的测试数据的频偏和信号功率；根据所述频偏和所述信号功率，确定所述用户设备所在的通信链路是否存在故障。

技术领域

本公开涉及通信技术领域，具体地，涉及一种通信测试方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

NB-IoT(Narrow Band Internet of Things，窄带物联网)是物联网领域的新兴技术，支持低功耗设备在广域网的蜂窝数据连接。NB-IoT可直接部署于GSM网络、UMTS网络或LTE网络，支持待机时间长、对网络连接要求较高设备的高效连接。

相关技术中，对NB-IoT的通信测试，比如NB-IoT下行综测，主要是解析BLER(BlockErrorRatio，块差错率)。具体地，是生成包括DCI(Downlink Control Information，下行控制信息)和NPDSCH(Narrowband Physical Downlink Shared Channel，窄带物理下行共享信道)的测试数据发送给UE(User Equipment，用户设备)，然后UE周期性对DCI进行解析，并根据DCI调度解析NPDSCH，接着按照NPDSCH的CRC(Cyclic Redundancy Check，循环冗余校验)计算BLER，最终通过计算出的BLER确定NB-IoT下行通路是否存在故障。此种方式由于需要多次解析NPDSCH以获得BLER进行通信测试，因此整个通信测试过程耗时较长。

发明内容

本公开的目的是提供一种通信测试方法、装置、存储介质及电子设备，以减少NB-IoT下行综测的耗时，提高测试效率。

为了实现上述目的，第一方面，本公开提供一种通信测试方法，应用于窄带物联网NB-IoT中的用户设备，所述方法包括：

确定所述用户设备接收到的测试数据的频偏和信号功率；

根据所述频偏和所述信号功率，确定所述用户设备所在的通信链路是否存在故障。

可选地，所述根据所述频偏和所述信号功率，确定所述用户设备所在的通信链路是否存在故障，包括：

如果所述频偏位于预设频偏范围内、且所述信号功率位于所述预设功率范围内，则确定所述用户设备所在的通信链路不存在故障。

可选地，所述根据所述频偏和所述信号功率，确定所述用户设备所在的通信链路是否存在故障，包括：

根据所述频偏，确定所述用户设备接收所述测试数据的频偏误差；

根据所述信号功率，确定所述用户设备接收所述测试数据的功率误差；

如果所述频偏误差位于第一误差范围内，且所述功率误差位于第二误差范围内，则确定所述用户设备所在的通信链路不存在故障。

可选地，所述方法还包括：

接收包括系统信息块SIB1的测试数据；

所述确定所述用户设备接收到的测试数据的频偏和信号功率，包括：

对所述测试数据包括的SIB1进行解码；

如果对所述SIB1解码正确，则确定所述用户设备接收到的测试数据的频偏和信号功率。

可选地，所述方法还包括：

如果对所述SIB1解码不正确，则确定所述用户设备所在的通信链路存在故障。

第二方面，本公开还提供一种通信测试装置，应用于窄带物联网NB-IoT中的用户设备，所述装置包括：