[发明专利]一种小杂粮种植监测系统

说明书

本发明公开了一种小杂粮种植监测系统，包括土壤监测模块、巡检模块、土壤环境分析模块、种植措施输出模块和病虫害分析模块。本发明基于土壤环境参数、杂粮植株叶片生长率、枝干生长率、叶片增加率、果实生长率以及叶片颜色参数、病虫害参数实现了杂粮种植全过程的全面监测，从而可以及时发现种植过程中存在的问题，为杂粮的产量和品质提供了保障。

技术领域

本发明涉及小杂粮种植领域，具体涉及一种小杂粮种植监测系统。

背景技术

杂粮，又称小杂粮，一般是指水稻、小麦、玉米、大豆等大宗粮食作物以外的粮食，我国杂粮作物种类繁多，广泛分布在各省、市、自治区。随着人们生活水平的日益提高，和营养保健意识的增强，粗、杂粮越来越受到人们的青睐。如何准确监控杂粮种植过程中杂粮的生长参数以及环境参数，减少病虫害等对杂粮产量的影响，是具有很重要的现实意义的。

而目前，对杂粮种植的监测还停留在人工定时定点监测的阶段，实时性、准确性均较差，且检测结果需要人为进行分析处理，费时费力。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种小杂粮种植监测系统，实现了小杂粮种植过程中多种参数的全面监测。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：

一种小杂粮种植监测系统，包括

土壤监测模块，用于定点实现种植地土壤湿度、营养成分数据的采集；

巡检模块，用于通过巡检机器人定时定点的进行杂粮植株图像的采集；

生长参数分析模块，用于根据采集到的杂粮植株图像实现杂粮植株叶片生长率、枝干生长率、叶片增加率、果实生长率以及叶片颜色参数的计算分析；

土壤环境分析模块，用于基于预设的土壤分析模型根据采集到的土壤湿度以及营养成分数据实现当前土壤状态的分析；

种植措施输出模块，用于基于预设的BP神经网络模型根据生长参数分析模块以及土壤环境分析模块的分析结果输出对应的灌溉措施、施肥措施；

病虫害分析模块，用于根据采集到的杂粮植株图像实现杂粮叶片、枝干上的孔洞、斑点、害虫轨迹的识别，从而根据识别结果基于病虫害数据库完成病虫害的识别。

进一步地，所述杂粮植株图像至少需包括杂粮植株前侧视图、后侧视图、左侧视图、右侧视图以及俯视图。

进一步地，所述叶片生长率基于前一次叶片的尺寸以及最近一次叶片的尺寸计算；需目的监测模块，监测目标分别位于植株的最上层、中间层以及最下层，且每层的监测目标不少于三片，每一层输出一个叶片生长率。

进一步地，所述枝干生长率基于前一次主枝干的长度以及最近一次主枝干的长度计算。

进一步地，所述叶片增加率基于前一次叶片的覆盖区面积以及最近一次叶片的覆盖区面积计算，其中镂空作为非覆盖区。

进一步地，所述果实生长率以前一次果实的尺寸以及最近一次果实的尺寸计算；需固定监测目标，且目标至少为3个，需位于枝干的不同位置，每一个位置输出一个果实生长率。

进一步地，所述病虫害分析模块采用双边滤波和分段线性变换算法分别进行图像去噪和图像增强预处理；并采用迭代自适应阈值分割法进行图像二值化处理；然后基于连通分量外接矩形的长宽比进行杂粮叶片、枝干上的孔洞、斑点、害虫轨迹的识别。

进一步地，还包括一数据整理模块，用于以预制的latex模版完成数据的整理。

本发明具有以下有益效果：