[发明专利]集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法

权利要求书

1.一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路，其特征在于，包括通道矩阵、信号分析模块、控制模块和多个测试端口，所述通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；所述信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检，所述控制模块用于控制构建信号接收与分析类的功能电路的快速自检测试通道，由经自检正常的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息到控制模块。

2.如权利要求1所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路，其特征在于，所述通道矩阵为N×M通道矩阵，其中N和M均为大于或者等于1的正整数；根据所支持测试规模确定N×M通道矩阵中的N和M的取值。

3.如权利要求1所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路，其特征在于，所述控制模块分别与信号发生与激励类功能电路和信号接收与分析类的功能电路通信连接，用于协同控制所配置的信号发生与激励类电路和信号接收与分析类的功能电路正常工作。

4.如权利要求3所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路，其特征在于，所述控制模块与通道矩阵通信连接，所述控制模块用于控制构建信号发生与激励类功能电路的快速自检测试通道，由快速自检电路中的信号分析模块对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息到控制模块。

5.一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法，其特征在于，步骤如下：

构建通道矩阵并与各个测试端口连接，通过控制模块协同控制所配置的信号发生与激励类、信号接收与分析类的功能电路正常工作；

构建信号发生与激励类功能电路的快速自检测试通道，由快速自检电路中的信号分析模块对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息；

如果信号发生与激励类功能电路自检测试正常，构建信号接收与分析类的功能电路的快速自检测试通道，由经自检正常的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈测试数据信息；

通过传递式的快速自检测试链完成仪器整机测试功能的完整核查测试。

6.如权利要求5所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法，其特征在于，对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈的测试数据信息包括“信号发生与激励类功能电路+相应测试通道”的正常性评估结果。

7.如权利要求5所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法，其特征在于，对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查并反馈的测试数据信息包括“信号接收与分析类功能电路+相应测试通道”的正常性评估结果。

8.如权利要求5所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法，其特征在于，如果信号发生与激励类功能电路自检测试异常，对信号发生与激励类功能电路进行校正，直至自检测试正常再进入下一步。

9.一种多参数测试仪，其特征在于，包括权利要求1-4任一项所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路；

或，利用权利要求5-8任一项所述的集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检方法。