[发明专利]测试器件及其测试方法

说明书

本发明涉及一种测试器件及其测试方法。其中，测试器件包括层叠设置的第一电极、电子传输单元、电荷生成层、空穴传输单元和第二电极；所述电荷生成层包括N型掺杂层和P型掺杂层，所述N型掺杂层邻接所述电子传输单元，所述P型掺杂层邻接所述空穴传输单元。上述测试器件去除了发光层，避免了发光层对器件性能的影响，单独测试电荷生成层的电荷产生能力和稳定性，可以提高测试准确性。

技术领域

本发明涉及显示领域，特别是涉及一种测试器件及其测试方法。

背景技术

叠层OLED器件由电荷生成层串联两个发光单元，在低电流密度下可以达到高电流效率，而且低电流驱动也可以延长OLED器件的寿命，因此得到了广泛应用。

为了提高叠层OLED的寿命，需要具有高效的电荷产生、电荷传输和电荷注入性质的电荷生成层。如何使电荷生成层高效地产生载流子、快速地传输载流子和有效地注入载流子，是获得高性能叠层OLED器件的关键问题。而目前的电荷生成层，其自身的电荷产生能力弱，导致叠层OLED的电流效率下降，器件寿命不理想。因此，需要提供一种测试器件和测试方法，以检测出高性能的电荷生成层的参数，进而提高叠层OLED的效率。

发明内容

基于此，有必要针对前的电荷生成层，其自身的电荷产生能力弱，导致叠层OLED的电流效率下降，器件寿命低的问题，提供一种测试器件及其测试方法。

一种测试器件，包括层叠设置的第一电极、电子传输单元、电荷生成层、空穴传输单元和第二电极；

所述电荷生成层包括N型掺杂层和P型掺杂层，所述N型掺杂层邻接所述电子传输单元，所述P型掺杂层邻接所述空穴传输单元。

在其中一个实施例中，所述第一电极包括阳极，所述第二电极包括阴极；或

所述第一电极包括阴极，所述第二电极包括阳极。

在其中一个实施例中，所述电子传输单元包括设置于所述第一电极和所述N型掺杂层之间的电子注入层和电子传输层，所述的电子注入层邻接所述第一电极，所述电子传输层邻接所述N型掺杂层；

所述空穴传输单元包括设置于所述第二电极和所述P型掺杂层之间的空穴注入层和空穴传输层，所述空穴注入层连接所述第二电极，所述空穴传输层邻接所述P型掺杂层。

一种测试方法，所述测试方法包括：

提供多个测试器件，其中，所述测试器件为前述测试器件，每个所述测试器件的电荷生成层均包括一个变化的参数；

在每个所述测试器件的第一电极和第二电极之间施加测试电压，使所述电荷生成层产生电流，检测每个所述测试器件的电流，并根据所述电流随所述测试电压的变化绘制电压电流曲线；和/或

在预设温度下，检测固定电流密度下每个所述测试器件的电压，并根据所述电压随时间的变化绘制时间电压曲线；

根据所述电压电流曲线和/或所述时间电压曲线选取所述电荷生成层的所述参数。

在其中一个实施例中，所述参数包括N型掺杂层的N型掺杂材料、N型掺杂浓度、N型掺杂层厚度、所述P型掺杂层的P型掺杂材料、P型掺杂浓度和P型掺杂层厚度中的任一个。

在其中一个实施例中，所述第一电极为阳极，所述第二电极为阴极；

所述在每个所述测试器件的第一电极和第二电极之间施加测试电压的步骤包括：

将所述测试电压配置为正向电压，以使所述电荷生成层产生第一内部电流，检测所述测试器件的第一内部电流与所述正向电压的所述电压电流曲线。

在其中一个实施例中，所述第一电极为阴极，所述第二电极为阳极；

所述在每个所述测试器件的第一电极和第二电极之间施加测试电压的步骤包括：