[发明专利]基于EPI的光场图像特征点检测方法

权利要求书

1.基于EPI的光场图像特征点检测方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：

步骤1，输入光场图像，对所述光场图像进行预处理，得到光场图像的子孔径图像矩阵；

步骤2，对所述子孔径图像矩阵中中心行的所有子孔径图像的每行进行操作，提取中间行的子孔径图像中每一行像素的EPI图像作为EPI图像集合；

步骤3，对所述EPI图像集合中每个EPI图像进行SIFT特征点检测，得到特征点集合a；

步骤4，保留所述特征点集合a中在每个SIFT尺度下都存在的特征点，记为特征点集合b，其余的剔除；

步骤5，对所述特征点集合b中的特征点进行指标量化排序，保留排序前40％～60％的特征点即为光场图像的特征点。

2.如权利要求1所述的基于EPI的光场图像特征点检测方法，其特征在于，所述步骤1具体按照以下方式实施：

步骤1.1，读入光场图像和其对应的微透镜中心数据文件；

步骤1.2，根据微透镜中心数据文件中微透镜阵列的旋转角对光场图像进行旋转，得到旋转后的光场图像，记为LF′；

步骤1.3，对LF′进行解码，将光场图像的二维坐标转化为四维光场坐标，记为LF₄；

步骤1.4，提取LF₄中每个角度的图像，即为子孔径图像矩阵。

3.如权利要求1所述的基于EPI的光场图像特征点检测方法，其特征在于，步骤2中提取EPI图像的具体方式为：

以某一行为例，假设孔径图像的个数为U*V幅，每幅子孔径图像的大小为S*T，先选定某一行像素，提取该行像素对应的V个角度的像素，并依次叠加起来，共叠加V次，得到一副EPI图像，其大小为T*V，T为EPI图像的宽度，V为EPI图像的高度；

子孔径图像的大小为S*T，所以最终得到的EPI图像集合为S幅。

4.如权利要求1所述的基于EPI的光场图像特征点检测方法，其特征在于，所述步骤3中具体按照以下方式实施：

把每张EPI图像与高斯核卷积，构建高斯金字塔，进而构建DoG差分金字塔，对每幅EPI图像进行邻域极值点检测，并通过三元二次函数拟合来精确确定关键点的位置和尺度，再消除边缘响应，检测到的所有极值点即为特征点集合a。

5.如权利要求1所述的基于EPI的光场图像特征点检测方法，其特征在于，所述步骤5中指标量化排序的步骤为：首先计算特征点集合b中每个特征点与其周围邻域像素的差值之和，然后按照降序排列。