[发明专利]一种基于空间分布的多探头天线测试设备及方法

权利要求书

1.一种基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，包括电波暗室、控制台、环形支架、半环支架、待测物转台、多个第一探头和多个第二探头，

所述环形支架与所述半环支架设置在所述电波暗室，所述控制台控制待测物转台旋转，所述半环支架的顶部与所述环形支架的顶部连接，所述环形支架与所述半环支架形成第一夹角，

所述待测物转台设置在所述环形支架的底部，所述待测物转台的顶部位于所述环形支架的中心，所述第一探头设置在所述环形支架上，所述第二探头设置在所述半环支架上。

2.根据权利要求1所述的基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，所述电波暗室内壁设置有吸波棉，通过所述吸波棉吸收电磁波。

3.根据权利要求1所述的基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，所述第一夹角为θ，0°＜θ≤360°。

4.根据权利要求3所述的基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，所述第一夹角为90°或者270°。

5.根据权利要求1所述的基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，以所述环形支架中心为原点，所述半环支架顶部的所述第二探头与环形支架顶部的所述第一探头的夹角为第二夹角。

6.根据权利要求5所述的基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，所述环形支架的每一相邻的所述第一探头的夹角为第三夹角，所述第三夹角为所述第二夹角的2倍。

7.根据权利要求6所述的基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，所述半环支架的每一相邻的所述第二探头的夹角为第四夹角，所述第四夹角与所述第三夹角相等。

8.一种基于空间分布的多探头天线测试方法，包括权利要求1-7任一所述的基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，包括：

通过所述电波暗室吸收电磁波；

通过所述控制台控制所述待测物转台的旋转；

通过所述待测物转台带动待测物体的旋转；

提取每一相邻的所述第一探头的第一耦合系数和每一相邻的所述第二探头的第二耦合系数；

通过数值比较法和软件校准，调整每一所述第一耦合系数和每一所述第二耦合系数，使每一相邻的所述第一探头的耦合度相等和每一相邻的所述第二探头的耦合度相等。

9.根据权利要求8所述的基于空间分布的多探头天线测试方法，其特征在于，通过在所述第一探头和所述第二探头上加入去耦电路调整所述第一耦合系数和所述第二耦合系数。

10.根据权利要求8所述的基于空间分布的多探头天线测试方法，其特征在于，通过在所述第一探头和所述第二探头上加载超材料结构调整所述第一耦合系数和所述第二耦合系数。