[发明专利]光学粒子传感器装置及对应的粒子测量方法

权利要求书

1.一种光学粒子传感器装置(SE)，包括：

具有光学出射区域(OF)的壳体(MD)；

光学发射器设备(LD)，其被布置在壳体(MD)中并被设置为发射至少一个光学测量光束(OB)，用于捕获粒子；

布置在壳体(MD)中的聚焦透镜设备(LE；LE’；LE”)，用于引导光学测量光束(OB)通过光学出射区域(OF)到达壳体(MD)外部能够执行粒子捕获的聚焦区域(FA)中；以及

光学检测器设备(DD)，其被布置在壳体(MD)中并且被设置为捕获由粒子(P)散射的测量光束(OB’)并且被实施为输出与粒子(P)的存在相关的利用算法产生的信息；

其特征在于,

能够控制的调节设备(C，E；C’，SI；C”，SI)，在光学出射区域(OF)与聚焦区域(FA)之间的壳体(MD)外部存在外部光学窗口(EF)的情况下，所述能够控制的调节设备(C，E；C’，SI；C”SI)被设置为基于输入信号(ES；ES’)来调节透镜设备(LE；LE’；LE”)和/或光学发射器设备(LD)和/或光学检测器设备(DD)的至少一个光学属性，所述输入信号(ES；ES’)提供与外部光学窗口(EF)的存在相关的信息以及与外部光学窗口(EF)的光学属性相关的信息，使得能够在外部光学窗口(EF)以外进行粒子捕获。

2.根据权利要求1所述的光学粒子传感器装置(SE)，其中透明光学壳体窗口(OF)位于所述光学出射区域(OF)中。

3.根据权利要求1或2所述的光学粒子传感器装置(SE)，其中所述调节设备(C，E)具有输入设备(E)和控制设备(C)，所述输入设备(E)用于手动输入与所述外部光学窗口(EF)的存在相关的信息以及与所述外部光学窗口(EF)的光学属性相关的信息，所述控制设备(C)用于基于一个或多个先前输入的准则来调节所述透镜设备(LE)和/或所述光学发射器设备(LD)和/或所述光学检测器设备(DD)的至少一个光学属性。

4.根据权利要求1、2或3所述的光学粒子传感器装置(SE)，其中所述调节设备(C’，SI；C”，SI)具有传感器设备(SI)和控制设备(C’；C”)，所述传感器设备(SI)用于捕获和自动输入与所述外部光学窗口(EF)的光学属性相关的信息，所述控制设备(C’；C”)用于基于一个或多个先前输入的准则来调节所述透镜设备(LE；LE’；LE”)和/或所述光学发射器设备(LD)和/或所述光学检测器设备(DD)的至少一个光学属性。

5.根据权利要求4所述的光学粒子传感器装置(SE)，其中所述传感器设备(SI)包括干涉仪设备，用于确定所述外部光学窗口(EF)的光学属性。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的光学粒子传感器装置(SE)，其中调节所述透镜设备(LE；LE’；LE”)和/或所述光学发射器设备(LD)和/或所述光学检测器设备(DD)的至少一个光学属性包括调节所述透镜设备(LE”)的焦距。

7.根据权利要求6所述的光学粒子传感器装置(SE)，其中所述透镜设备(LE”)包括具有可变焦距的液体透镜，所述可变焦距能够通过所述控制设备(C”)来控制。

8.根据权利要求7所述的光学粒子传感器装置(SE)，其中所述焦距能够在1cm到50cm之间的范围内变化。

9.根据前述权利要求中的任一项所述的光学粒子传感器装置(SE)，其中调节所述透镜设备(LE；LE’；LE”)和/或所述光学发射器设备(LD)和/或所述光学检测器设备(DD)的至少一个光学属性包括调节所述光学发射器设备(LD)的光输出功率。

10.根据前述权利要求中的任一项所述的光学粒子传感器装置(SE)，其中调节所述透镜设备(LE；LE’；LE”)和/或所述光学发射器设备(LD)和/或所述光学检测器设备(DD)的至少一个光学属性包括调节所述光学检测器设备(DD)的敏感度。