[发明专利]一种定量评定双重晶粒度的方法

权利要求书

1.一种定量评定双重晶粒度的方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)将待测试样进行研磨抛光，以满足电子背散射衍射分析要求为标准，无需进行腐蚀；

(2)将制备好的试样进行电子背散射衍射分析，随机选取多个区域进行扫描，得到所有晶粒的数据信息；

(3)对所有区域内数据点进行统计分析，去除晶粒内数据点数小于10的干扰晶粒，对余下晶粒绘制出晶粒平均等积圆直径和晶粒所占面积百分比的柱状图，双峰态交界处谷底为细晶区和粗晶区的平均等积圆直径分界点，得到细晶区和粗晶区的临界平均等积圆直径；

(4)背散射衍射计算晶粒度级别

其中：为平均晶粒面积，单位为mm²；M为分析倍数；T为与分析倍数有关的常数；

根据公式分别计算出细晶区和粗晶区的晶粒度级别，并根据细晶区与粗晶区的各自面积计算各自所占的面积百分比。

2.根据权利要求1所述的定量评定双重晶粒度的方法，其特征在于，所述电子背散射衍射分析时步径设置为细晶区晶粒的平均等积圆直径的1/10。

3.根据权利要求1-2中任一权利要求所述的定量评定双重晶粒度的方法，其特征在于，所述方法适用于有织构的样品进行双重晶粒度定量评定。