[发明专利]一种高效便捷光纤宏弯损耗测试装置及测试方法在审
申请号: | 201910698244.4 | 申请日: | 2019-07-31 |
公开(公告)号: | CN110426184A | 公开(公告)日: | 2019-11-08 |
发明(设计)人: | 庄明杰;吴仪温;张文其;田炜;廖盼;陆俊富;乐曹伟;付明磊 | 申请(专利权)人: | 杭州永特信息技术有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 田相迪 |
地址: | 311401 浙江省杭州市富*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光纤宏弯损耗 测试装置 检测辅助装置 光纤分析仪 测试 测试误差 绕圈 光纤 扭转 | ||
1.一种高效便捷光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:包括光纤宏弯损耗检测辅助装置和光纤分析仪,光纤宏弯损耗检测辅助装置固定在光纤分析仪上;
其中,光纤宏弯损耗检测辅助装置包括底板、光纤缠绕部件和光纤固定部件,底板用于为光纤缠绕部件和光纤固定部件提供固定和支撑基础,光纤缠绕部件用于对待测光纤提供不同弯曲直径的弯曲操作,光纤固定部件用于固定待测光纤。
2.根据权利要求1所述的高效便捷光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:底板边缘做弧度处理,底板上设有3条移动槽和2个对角固定孔,移动槽沿底板长度方向平行间隔排列。
3.根据权利要求1所述的高效便捷光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:光纤缠绕部件包括3组不同尺寸的中空芯柱和6个移动杆,其中同一组的芯柱包括两个尺寸相同的芯柱,芯柱与移动杆配合以半固定的方式与底板的移动槽连接,并且可在底板的移动槽中自由滑动,每条移动槽匹配对应一组芯柱。
4.根据权利要求3所述的高效便捷光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:芯柱内径与移动杆外径一致,移动杆从底板的移动槽中向上贯穿芯柱并用螺母锁固。
5.根据权利要求3所述的高效便捷光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:同一移动槽中的两个芯柱外表面间距为400-500um。
6.根据权利要求1所述的高效便捷光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:光纤固定部件包括定位杆、第一固定块、第二固定块和固定插销,其中定位杆有两根,定位杆位于底板一端中心并间隙设置,第二固定块通过固定插销与第一固定块固定连接,第一固定块底端对应两个定位杆的间隙设有可供待测光纤穿过的通孔,两个定位杆的间隙距离的中心位于通孔的中心轴线上。
7.根据权利要求6所述的高效便捷光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:第二固定块通过螺栓紧固在底板上。
8.根据权利要求1所述的高效便捷光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:光纤分析仪为PK2300光纤分析仪,其包括高精度的光源。
9.根据权利要求1所述的高效便捷光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:由设有定位杆的底板一端向着另一端方向,三个移动槽中的芯柱的外径逐渐减小。
10.一种采用权利要求1-9所述的高效便捷光纤宏弯损耗测试装置进行光纤宏弯损耗测试的方法,其特征在于,包括以下步骤:
首先,根据不同的测试要求将不同尺寸芯柱和底板固定,若需多个芯柱时保证芯柱之间的中心位于第一固定块的通孔中心轴线上;
其次,将组装好的宏弯测试装置固定在光纤分析仪上,使定位杆、芯柱之间的中心与光纤分析仪的光端口在同一中心线上;
然后,将短光纤样品两端用光纤夹固定,端面处理后分别放置在光纤分析仪的两个光端口;
接着,采用绕“8字”法,光纤从定位杆间隙,以及第一固定压块通孔穿过,经过芯柱中心后顺时针环绕左边芯柱一圈,穿过芯柱中心,再逆时针环绕右边芯柱一圈,剩余部分贴附至光纤分析仪工作台面固定,可根据测试要求将光纤在不同直径的芯柱上松绕不同的圈数;
最后,采用光纤分析仪测量光纤在弯曲状态下得到的功率谱,再将弯曲光纤松开延中心线路还原成原有的状态,测量直的状态下的功率谱,从而得到光纤在不同波长下的的宏弯损耗值。
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