[发明专利]一种基于傅里叶级数的弯曲不敏感光纤折射率分布合格判定方法

说明书

本发明公开了一种基于傅里叶级数的弯曲不敏感光纤折射率分布合格判定方法，包括标样光纤折射率分布数据拟合、待测光纤折射率分布数据测试和待测光纤折射率分布合格判定,所述标样光纤折射率分布数据拟合利用从标准弯曲不敏感光纤中采集得到的折射率分布数据，采用傅里叶级数方法拟合得到标样光纤折射率分布数据曲线。该判定方法可以提供光纤折射率分布合格判定的定量依据，并且具有更合理的合格判定精度和可重复性。

技术领域：

本发明涉及光纤检测领域，特别是一种基于傅里叶级数的弯曲不敏感光纤折射率分布合格判定方法。

背景技术：

随着光纤到户业务的普及，弯曲不敏感光纤的应用需求逐渐增加。目前，弯曲不敏感光纤的制造工艺已经较成熟。但是，对于其预制棒折射率分布曲线是否合格鲜有人对其做一个较为科学、深入的方法探究，其预制棒折射率分布曲线恰好也关系着最终光纤的重要参数。目前，相关测试人员主要是根据芯棒或者预制棒折射率剖面的形状来判断光纤折射率分布是否合格。检测过程带有一定的人为主观因素，对测试人员的经验要求较高。专利《一种测试光纤预制棒折射率分布的装置和方法》(CN107356414A)提出了一种新的测试方法，可以提高光纤的测试精度。但是，这种方法没有很好地利用实际的光纤折射率分布数据，对于光纤折射率分布的判定缺少定量依据。

发明内容：

本发明所要解决的技术问题是，提供一种可以提供光纤折射率分布合格判定的定量依据的基于傅里叶级数的弯曲不敏感光纤折射率分布合格判定方法,该判定方法具有更合理的合格判定精度和可重复性。

本发明的技术解决方案是，提供一种基于傅里叶级数的弯曲不敏感光纤折射率分布合格判定方法，包括标样光纤折射率分布数据拟合、待测光纤折射率分布数据测试和待测光纤折射率分布合格判定,所述标样光纤折射率分布数据拟合利用从标准弯曲不敏感光纤中采集得到的折射率分布数据，采用傅里叶级数方法拟合得到标样光纤折射率分布数据曲线。

作为优选，所述傅里叶级数方法采用的函数F(x)为：

F(x)＝a₀+a₁*cos(x*w)+b₁*sin(x*w)+a₂*cos(2x*w)+b₂*sin(2x*w)+a₃*cos(3x*w)+b₃*sin(3x*w)+a₄*cos(4x*w)+b₄*sin(4x*w)+a₅*cos(5x*w)+b₅*sin(5x*w)+a₆*cos(6x*w)+b₆*sin(6x*w)+a₇*cos(7x*w)+b₇*sin(7x*w)+a₈*cos(8x*w)+b₈*sin(8x*w),所述函数F(x)中x表示距芯棒/光纤中心的距离，单位mm,所述函数F(x)中a₀-a₈表示余弦项系数，b₁-b₈表示正弦项系数，w表示频率系数。

作为优选，所述待测光纤折射率分布数据测试表示采用测试仪器测试待测光纤折射率与距芯棒/光纤中心距离x的分布数据。

进一步的，所述待测光纤折射率分布合格判定表示通过计算所述待测光纤折射率分布数据与所述标样光纤折射率分布数据曲线的相关系数R²和均方根误差，判定待测光纤折射率分布是否合格。

采用以上方案后与现有技术相比，本发明具有以下优点：对比传统检测方式，本发明提供的方法可以提供光纤折射率分布合格判定的定量依据；对比传统检测方式，本发明提供的方法具有更合理的合格判定精度；对比传统检测方式，本发明提供的方法更具有可重复性。

附图说明：