[发明专利]按键机构

说明书

本发明公开了一种能够辨识键帽是否更换的按键机构，该按键机构包括基板，键帽，弹性组件，光学检测模块以及处理器。该键帽设置在该基板上，且该键帽具有反射组件。该弹性组件设在该基板与该键帽之间。该光学检测模块设置在该基板，用来接收该反射组件反射出来的光信号。该处理器设置在该基板并且电连接该光学检测模块。该处理器用来分析该光信号以取得该键帽的移动信息与种类信息。使用者可替换反射组件、或是具有反射组件的键帽，以调整按键机构的操作模式及改变按键机构的使用手感。因此，本发明的按键机构可有效辨识反射系数及其反射组件与键帽，以确定如何切换及致发按键机构的操作模式。

技术领域

本发明涉及一种按键机构，特别是涉及一种能够辨识键帽是否更换的按键机构。

背景技术

请参阅图6，图6为现有技术的机械按键60。传统机械按键60的键帽62会通过升降单元66相对于基板64移动。当键帽62受压而相对支撑件64下移时，弹性组件68会弹性变形去接触基板64上的开关70，用以形成导电通路并输出致发信号。致发信号被分析以取得关于受压机械按键60的控制指令。然而，当键帽62朝下按压时，传统机械按键60利用键帽62内的柱体接触开关70，用户在传统机械按键的操作行程中只能感受到一段按压手感，故如何设计出一种具有多段控制功能的按键机构即为相关机构设计产业的重点发展目标之一。

发明内容

本发明涉及一种能够辨识键帽是否更换的按键机构。

本发明进一步公开一种能够辨识键帽是否更换的按键机构，该按键机构包括基板，键帽，弹性组件，光学检测模块以及处理器。该键帽设置在该基板上，且该键帽具有反射组件。该弹性组件设在该基板与该键帽之间。该光学检测模块设置在该基板，用来接收该反射组件反射出来的光信号。该处理器设置在该基板并且电连接该光学检测模块。该处理器用来分析该光信号以取得该键帽的移动信息与种类信息。该按键机构进一步包括支撑组件，该支撑组件的一端连接该键帽，该支撑组件的另一端连接该基板。该按键机构进一步包括具有光穿透特性的薄膜电路板，该薄膜电路板设置在该光学检测模块上。

本发明进一步公开该光学检测模块包括光信号发射器以及光信号接收器，该光信号发射器输出该光信号，该光信号接收器用来接收从该反射组件反射回来的该光信号。该处理器分析该光信号的强度信息与该光信号投射到该光学检测模块的位置信息的其中之一或全部以取得该键帽的该种类信息。该光学检测模块提供线性光学检测功能，该处理器分析该光信号的强度信息变化以判断该键帽的该移动信息。

本发明的按键机构可利用光学检测模块去检测键帽是否被按压、受压按键的施压深度、以及键帽或其反射组件是否被更换。光学检测模块可分析反射自键帽上的反射组件的光信号的强度信息。若强度信息介于低灰阶区间，反射组件可被辨识为具有低反射系数；若强度信息介于高灰阶区间，反射组件可被辨识为具有高反射系数。使用者可替换反射组件(或是具有反射组件的键帽)以调整按键机构的操作模式及改变按键机构的使用手感；因此，处理器可有效辨识反射系数(及其反射组件与键帽)，以确定如何切换及致发按键机构的操作模式。

附图说明

图1为本发明实施例的按键机构的示意图。

图2与图3为本发明一实施例的按键机构在其他操作模式的示意图。

图4为本发明另一实施例的按键机构的示意图。

图5为本发明又一实施例的按键机构的示意图。

图6为现有技术的机械按键。

附图标号说明：

具体实施方式