[发明专利]一种BOE腐蚀的工艺方法有效

专利信息
申请号: 201910701576.3 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN110600374B 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 顾晶伟;邹有彪;何孝鑫;黄元凯 申请(专利权)人: 富芯微电子有限公司
主分类号: H01L21/306 分类号: H01L21/306;H01L21/67
代理公司: 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 代理人: 胡剑辉
地址: 230031 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 boe 腐蚀 工艺 方法
【权利要求书】:

1.一种BOE腐蚀的工艺方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤一、将硅片清洗后加入烘箱中,在120℃,真空度-720pa的条件下烘干处理60min,烘干后的硅片在经过匀胶后在温度为100℃的烘箱中烘烤40min后待用;

步骤二、用有源区光刻版作为掩膜,将硅片紫外线曝光15-20秒,并将曝光后的硅片浸入显影液中显影,显影后的硅片放入温度为150℃烘箱中烘烤,时间为60min;

步骤三、将硅片放置在片架上,再将片架浸入BOE腐蚀槽中,BOE腐蚀槽中装乘有BOE腐蚀液,腐蚀液的温度通过槽体加热器(4)加热至40±2℃,将硅片在酸液中上下运动60-80S后,把片架整体提出液面,1S后,再放入酸液中继续上下运动,循环腐蚀12min,当达到腐蚀时间后,将片架从腐蚀液中取出后,用去离子水冲洗干净,通过甩干机甩干待用;

步骤四、将甩干后的硅片在金相显微镜下镜检,保证硅片有源区全部腐蚀干净彻底,表面无染色,光刻胶保护完好;

步骤五、将通过检验的硅片放入去胶液中浸泡去胶,用去离子水冲洗后甩干机甩干,检验合格后进入下一工序;

所述BOE腐蚀槽包括内槽(2),内槽(2)的底部设置有槽内匀流板(3),槽内匀流板(3)与内槽(2)底部之间设置有槽体加热器(4),所述内槽(2)的开口处套接有溢流槽(5),所述溢流槽(5)的底部低于内槽(2)的开口,溢流槽(5)的顶部高出内槽(2)的开口;

所述内槽(2)与溢流槽(5)通过外接管道连接,其中外接管道上设置有循环泵(6),外接管道的两端分别连接内槽(2)的底部与溢流槽(5)的底部;

所述BOE腐蚀槽还包括液位检测装置(1),液位检测装置(1)用于检测内槽(2)的液位与溢流槽(5)的液位。

2.根据权利要求1所述的一种BOE腐蚀的工艺方法,其特征在于,步骤一中硅片的匀胶通过轨道式全自动匀胶机,光刻胶采用BN308光刻胶,匀胶机转速为3000rpm,时间30s。

3.根据权利要求1所述的一种BOE腐蚀的工艺方法,其特征在于,步骤二中显影液为RFJ2200型显影液,显影时间为8-10min。

4.根据权利要求1所述的一种BOE腐蚀的工艺方法,其特征在于,步骤五中去胶液为浓硫酸与双氧水按照体积比4:1配制而成,硅片在去胶液中的浸泡时间为8-10min。

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