[发明专利]自动测试SSD掉电对数据一致性影响的方法及装置

说明书

本发明涉及一种自动测试SSD掉电对数据一致性影响的方法及装置，方法包括：搭建自动测试环境；于自动测试环境中，运行自动测试脚本；将测试数据写入SSD；掉电重启SSD；检测SSD掉电前后测试数据的一致性。本方案基于Driver Master自动测试SSD掉电对于数据一致性的影响，具体通过在SSD掉电前自动写入测试数据，控制SSD掉电重启后，读取重启后的测试数据，来判断数据的一致性，无需人为介入，提高了SSD数据一致性的测试效率，降低了测试成本。

技术领域

本发明涉及SSD测试领域，更具体地说是指一种自动测试SSD掉电对数据一致性影响的方法及装置。

背景技术

固态硬盘(Solid State Drives，简称SSD)是一种数据存储介质，固态硬盘通常包括主控芯片(controller)，闪存(Flash)，缓存(RAM)及其它相关器件组成。其中，闪存芯片是非易失性存储介质，在停止供电后不会丢失数据，而缓存芯片现在通常使用DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存取存储器)，由于DRAM掉电后，保存在其中的数据会丢失。为了保证数据存储的可靠性，通常企业级SSD中会增加备电模块，SSD在外部异常掉电之后，使用内部备电模块维持一段时间的供电，将缓存中的数据传输到闪存中进行保存，防止数据丢失。

正常情况下，SSD在掉电前后，可能会因为映射表的重建不够充分或者失败导致数据在掉电前后发生数据不一致，如果具有这样的问题，数据会丢失严重，这样的SSD的使用体验比较差，因此需要在SSD出厂时对SSD掉电前后的数据一致性进行检测。

现有的测试SSD掉电前后的数据一致性的方法，一般都是通过工作人员手动下命令来实现检查，这就显得十分耗时费力。如果SSD的数量比较多的情况下，往往需要更多人的配合，工作量大，耗时费力，人力成本较高，测试效率低下。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种自动测试SSD掉电对数据一致性影响的方法及装置，提高SSD掉电时数据一致性的测试效率。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种自动测试SSD掉电对数据一致性影响的方法，包括以下步骤：

搭建自动测试环境；

于自动测试环境中，运行自动测试脚本；

将测试数据写入SSD；

掉电重启SSD；

检测SSD掉电前后测试数据的一致性。

其进一步技术方案为：所述搭建自动测试环境步骤，包括，

将测试主机与待检测SSD电连接；

预设置测试脚本运行环境；

预设定测试变量。

其进一步技术方案为：所述将测试主机与待检测SSD电连接步骤，包括，

将测试主机电连接于SSD电源驱动器，待检测SSD电连接于M.2转接板，并将M.2连接板电连接SSD电源驱动器。

其进一步技术方案为：所述预设置测试脚本运行环境步骤，包括，

列出NVMe Controller标识数据；

设置SSD重建映射表时间初始值为0；

设置计时为0；

使能写高速缓存；

设置最大的单位块数量。

其进一步技术方案为：所述将测试数据写入SSD步骤，包括，

设置写缓冲器的单位块数量；