[发明专利]一种LCD器件管脚电性指标快速测试方法

说明书

本发明公开了一种LCD器件管脚电性指标快速测试方法，其包括有如下步骤：步骤S1，将LCD器件中相同类型的管脚分成多个A_n组和多个B_n组，A_n组和B_n组交错分隔，A_n组的管脚数量和B_n组的管脚数量均是2^m个；步骤S2，测试初始化，令n=0，m=0；步骤S3，测试A_n组和B_n组的电性指标是否合格，若否，则提示不合格，若是，则执行步骤S4，步骤S4，令n=n+1，m=m+1；步骤S5，将每个A_n组中的全部管脚相互并联，将每个B_n组中的全部管脚相互并联，测试A_n组和B_n组的电性指标是否合格，若否，则提示不合格，若是，则执行步骤S6；步骤S6，判断A_n组的数量和B_n组的数量是否为1，若否，则执行步骤S4，若是，则执行步骤S7；步骤S7，测试结束。本发明能提高扫描测试效率以及避免漏检。

技术领域

本发明涉及LCD器件测试方法，尤其涉及一种LCD器件管脚电性指标快速测试方法。

背景技术

LCD产品通常有多根管脚，任何管脚之间都可能出现短路或扫描电流过大的缺陷。传统的测试方法是遍历所有管脚，每次仅测试一根管脚的电性参数。具体来说，请参见图1，假设某LCD产品中有M根COM脚和N根SEG脚，那么在测试所有管脚的绝缘电阻时，需要遍历所有M根COM脚，分别测试每根COM脚（与其他COM脚之间）的电阻，然后遍历N根SEG脚，分别测试每根SEG脚（与其他SEG脚之间）的电阻。测试每根管脚的扫描电流时，方法与此类似。上述测试方法的效率较低，每种电性指标都需要执行M+N次测试。当LCD产品的管脚数量较多时，这个过程需要耗费很长的时间。

实际上，LCD器件良品的管脚之间绝缘电阻很大，将多根管脚并联起来之后其绝缘电阻也远大于短路的判定标准。LCD良品的扫描电流也与此类似，将多根管脚并联起来之后其电流值也符合良品的判段条件。在LCD行业内，常常会通过特制的夹具或PCB，把产品上的多个COM脚或SEG脚并联起来，以减少测试扫描的次数，达到提高测试速度的效果。不过，管脚并联后也有副作用，如果被并联的管脚之间有电性不良，将无法测试到。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足，提供一种采用多次并联、交叉覆盖的测试方式，不仅能提高扫描测试的效率，还能确保任意管脚都能得到测试，进而避免漏检的LCD器件管脚电性指标快速测试方法。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案。

一种LCD器件管脚电性指标快速测试方法，其包括有如下步骤：步骤S1，将LCD器件中相同类型的管脚分成多个A_n组和多个B_n组，所述A_n组和所述B_n组交错分隔，所述A_n组的管脚数量和所述B_n组的管脚数量均是2^m个；步骤S2，测试初始化，令n=0，m=0；步骤S3，测试所述A_n组和所述B_n组的电性指标是否合格，若否，则提示不合格，若是，则执行步骤S4，步骤S4，令n=n+1，m=m+1；步骤S5，将每个A_n组中的全部管脚相互并联，将每个B_n组中的全部管脚相互并联，测试所述A_n组和所述B_n组的电性指标是否合格，若否，则提示不合格，若是，则执行步骤S6；步骤S6，判断所述A_n组的数量和所述B_n组的数量是否为1，若否，则执行步骤S4，若是，则执行步骤S7；步骤S7，测试结束。

优选地，所述LCD器件中的管脚类型包括COM脚和SEG脚，所述测试方法中，通过执行步骤S1至步骤S7分别对COM脚和SEG脚进行测试。