[发明专利]用于估计磁共振成像扫描的发射衰减的方法和系统有效
申请号: | 201910710953.X | 申请日: | 2019-08-02 |
公开(公告)号: | CN110811619B | 公开(公告)日: | 2023-09-01 |
发明(设计)人: | 阿南德·库马尔·文卡塔查里;孙凌;孙伟 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 钱慰民;张鑫 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 估计 磁共振 成像 扫描 发射 衰减 方法 系统 | ||
1.一种用于估计磁共振成像扫描的发射衰减的方法,包括:
设置发射射频线圈的放大器的发射衰减的参考值;
以设置为所述参考值的所述发射衰减获取二维B1场图;
从所述B1场图确定平均翻转角;
基于规定翻转角和所述平均翻转角而确定发射衰减校正值;
用所述发射衰减校正值校正发射衰减的所述参考值,以获得发射衰减的最终值;以及
以设置为所述最终值的所述发射衰减执行磁共振成像扫描。
2.根据权利要求1所述的方法,其中获取所述二维B1场图包括:
在预扫描期间获取磁共振信号相移的二维图;以及
通过将所述磁共振信号相移转换成对应B1场强来得到所述二维B1场图。
3.根据权利要求2所述的方法,其中通过使用Bloch-Siegert位移来获取磁共振信号相移的所述图。
4.根据权利要求1所述的方法,其中基于待扫描的成像对象的一个或多个解剖特征而设置发射衰减的所述参考值。
5.根据权利要求1所述的方法,其中从所述B1场图确定所述平均翻转角包括:确定所述B1场图中表示的平均B1场强,以及从所述平均B1场强确定所述平均翻转角。
6.根据权利要求1所述的方法,其中获取所述B1场图包括在所述磁共振成像扫描之前执行的预扫描期间获取所述B1场图,并且其中所述B1场图表示在成像平面的每个像素位置处的B1场的强度,所述成像平面位于磁共振成像系统的孔的中心。
7.根据权利要求1所述的方法,还包括:将掩模施加到所述B1场图以生成掩蔽的B1场图,以及从所述掩蔽的B1场图确定所述平均翻转角。
8.一种用于估计磁共振成像扫描的发射衰减的系统,包括:
发射射频线圈;
放大器,所述放大器被配置为驱动所述发射射频线圈;和
控制器,所述控制器耦接到所述发射射频线圈和所述放大器,所述控制器被配置为:
设置所述放大器的发射衰减的参考值;
以设置为所述参考值的所述发射衰减获取二维B1场图;
从所述B1场图确定平均翻转角;
基于规定翻转角和所述平均翻转角而确定发射衰减校正值;
用所述发射衰减校正值校正发射衰减的所述参考值,以获得发射衰减的最终值;以及
以设置为所述最终值的所述发射衰减执行成像扫描。
9.根据权利要求8所述的系统,其中所述二维B1场图通过以下方式获取:在预扫描期间获取磁共振信号相移的二维图;以及通过将所述磁共振信号相移转换成对应B1场强来得到所述二维B1场图。
10.根据权利要求9所述的系统,其中通过使用Bloch-Siegert位移来获取磁共振信号相移的所述图。
11.根据权利要求8所述的系统,其中基于待扫描的成像对象的一个或多个解剖特征而设置发射衰减值的所述参考值。
12.根据权利要求8所述的系统,其中从所述B1场图确定所述平均翻转角包括:确定所述B1场图中表示的平均B1场强,以及从所述平均B1场强确定所述平均翻转角。
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