[发明专利]一种非易失性数据存储方法、装置、电子设备及介质有效

专利信息
申请号: 201910711070.0 申请日: 2019-07-30
公开(公告)号: CN110442473B 公开(公告)日: 2023-01-24
发明(设计)人: 刘均;刘凯 申请(专利权)人: 深圳市元征科技股份有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G06F11/14;G06F3/06
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 非易失性 数据 存储 方法 装置 电子设备 介质
【权利要求书】:

1.一种非易失性数据存储方法,其特征在于,所述方法包括:

对系统非易失性数据进行结构体整合;

当所述结构体内的非易失性数据出现更新变化时,重新生成循环冗余校验值;

调取数据写入程序将包括有所述循环冗余校验值的所述结构体写入数据保存区;以及

预设时间后调取数据写入程序将包括有所述循环冗余校验值的所述结构体写入数据备份区;

所述重新生成循环冗余校验值,包括:

将所述结构体内更新变化后的非易失性数据依次划分为长度为n的多个子数据序列;

针对所述多个子数据序列中的第一个子数据序列,采用直接生成法计算得到该第一个子数据序列的m位循环冗余校验值;

针对所述多个子数据序列中的第二个子数据序列,将该第二个子数据序列的前m位数据与该第一个子数据序列的m位循环冗余校验值进行异或运算,用异或运算的结果替换该第二个子数据序列的前m位数据,得到更新的第二个子数据序列,采用直接生成法计算得到该更新的第二个子数据序列的m位循环冗余校验值;

重复以上步骤直到得到所述多个子数据序列中更新的最后一个子数据序列,采用直接生成法计算得到该更新的最后一个子数据序列的m位循环冗余校验值,即得到重新生成的循环校验值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

当系统后续启动运行时,读取所述数据保存区内存储的数据,以对所述循环冗余校验值进行校验;

若校验通过则退出,若校验失败则读取所述数据备份区内存储的数据,以对所述循环冗余校验值进行校验;

若校验通过则退出,若校验失败则导入系统默认参数以完成系统启动运行。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述数据保存区包括多个数据保存子分区;所述将包括有所述循环冗余校验值的所述结构体写入数据保存区,包括:

遍历所述多个数据保存子分区,以从所述多个数据保存子分区中确定出未保存数据的第一目标数据保存子分区;

将包括有所述循环冗余校验值的所述结构体写入所述第一目标数据保存子分区。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

检测所述第一目标数据保存子分区是否还有存储空间;

若所述第一目标数据保存子分区没有存储空间,则判断包括有所述循环冗余校验值的所述结构体是否已写入完成;若包括有所述循环冗余校验值的所述结构体已写入完成,则结束写入操作;若包括有所述循环冗余校验值的所述结构体未写入完成,则重新执行遍历所述多个数据保存子分区,以从所述多个数据保存子分区中确定出未保存数据的第二目标数据保存子分区;

将包括有所述循环冗余校验值的所述结构体未写入所述第一目标数据保存子分区的部分写入所述第二目标数据保存子分区。

5.一种非易失性数据存储装置,其特征在于,所述装置包括:

数据整合模块,用于对系统非易失性数据进行结构体整合;

校验值生成模块,用于当所述结构体内的非易失性数据出现更新变化时,重新生成循环冗余校验值;

第一写入模块,用于调取数据写入程序将包括有所述循环冗余校验值的所述结构体写入数据保存区;以及

第二写入模块,用于预设时间后调取数据写入程序将包括有所述循环冗余校验值的所述结构体写入数据备份区;

所述校验值生成模块,包括:

数据划分单元,用于将所述结构体内更新变化后的非易失性数据依次划分为长度为n的多个子数据序列;

第一生成单元,用于针对所述多个子数据序列中的第一个子数据序列,采用直接生成法计算得到该第一个子数据序列的m位循环冗余校验值;

第二生成单元,用于针对所述多个子数据序列中的第二个子数据序列,将该第二个子数据序列的前m位数据与该第一个子数据序列的m位循环冗余校验值进行异或运算,用异或运算的结果替换该第二个子数据序列的前m位数据,得到更新的第二个子数据序列,采用直接生成法计算得到该更新的第二个子数据序列的m位循环冗余校验值;

结果获取单元,用于重复以上步骤直到得到所述多个子数据序列中更新的最后一个子数据序列,采用直接生成法计算得到该更新的最后一个子数据序列的m位循环冗余校验值,即得到重新生成的循环校验值。

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