[发明专利]光传感器性能检测方法及其检测系统

权利要求书

1.一种光传感器性能检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)在标准光源值单元中存储各型号光传感器的标准光源值；

(2)在输入单元输入待检测的光传感器的料号；

(3)查询单元根据输入的料号查找标准光源值单元中该料号的光传感器对应的标准光源值；

(4)光源照射单元校正所述光传感器初始状态的光照强度值；

(5)检测单元检测校正后的光传感器的光照强度值；

(6)对比单元将检测单元检测到的光照强度值与标准光源值单元的标准光源值进行对比判断，得出一检测结果；

(7)显示单元显示所述检测结果；

(8)存储单元将所述检测结果进行存储。

2.根据权利要求1所述的光传感器性能检测方法，其特征在于，所述步骤(1)中标准光源值单元存储的标准光源值范围为250nits至2500nits之间。

3.根据权利要求1所述的光传感器性能检测方法，其特征在于，所述步骤(6)中的检测结果包括校正的初始光源值、产品序列号、产品名称及检测日期。

4.根据权利要求1所述的光传感器性能检测方法，其特征在于，所述步骤(7)中的所述检测结果检测合格时，所述显示单元显示“PASS”，所述检测结果检测不合格时，所述显示单元显示“FAIL”。

5.根据权利要求1所述的光传感器性能检测方法，其特征在于，所述步骤(8)中的所述存储单元将所述检测结果生成LOG档进行存储，所述LOG档以所述光传感器的料号命名。

6.一种光传感器性能检测系统，用于所述光传感器性能检测方法中，其特征在于，包括：

标准光源值单元，其存储各型号光传感器的标准光源值；

输入单元，其输入待检测的光传感器的料号；

查询单元，其与所述输入单元连接，所述查询单元根据输入的料号查找标准光源值单元中该料号的光传感器对应的标准光源值；

光源照射单元，其与所述标准光源值单元连接，所述光源照射单元校正所述光传感器初始状态的光照强度值；

检测单元，其将检测校正后的光传感器的光照强度值；

对比单元，其与所述标准光源值单元连接，所述对比单元将所述检测单元检测到的光照强度值与标准光源值单元的标准光源值进行对比判断，得出一检测结果；

显示单元，其与所述对比单元连接，所述显示单元显示所述检测结果；

存储单元，其与所述显示单元连接，所述存储单元将所述检测结果进行存储。

7.根据权利要求1所述的光传感器性能检测系统，其特征在于，所述输入单元为一条码枪，通过该条码枪扫描待检测的光传感器的料号条形码。

8.根据权利要求1所述的光传感器性能检测系统，其特征在于，所述光源照射单元为一光源发射器，通过该光源发射器发射出一光线对所述光传感器进行校正。

9.根据权利要求1所述的光传感器性能检测系统，其特征在于，所述检测结果包括校正的初始光源值、产品序列号、产品名称及检测日期。

10.根据权利要求1所述的光传感器性能检测系统，其特征在于，所述存储单元将所述检测结果生成LOG档进行存储，所述LOG档以所述光传感器的料号命名。