[发明专利]EEPROM读写检测系统及其方法

说明书

一种EEPROM读写检测系统及其方法，所述检测系统包括：配置文档单元，其存储EEPROM的测试信息；输入单元，输入待检测的EEPROM的料号；写入测试模块，其包括第一搜索单元及写入单元，第一搜索单元查找配置文档单元存储的测试信息，写入单元将查找到的测试信息写入到EEPROM中；读取测试模块，其包括第二搜索单元及读取单元，第二搜索单元根查找写入到EEPROM中的测试信息，读取单元读取查找到的测试信息读取；显示单元，其显示读取单元读取到的测试信息；对比单元，其将读取到的测试信息与配置文档单存储的测试信息进行对比，得出一检测结果；存储单元，其将检测结果进行存储。本发明的EEPROM读写检测系统及其方法，不仅节省了检测时间，还提高了检测效率。

【技术领域】

本发明是关于一种检测装置及其方法，尤其是指一种EEPROM读写检测系统及其方法。

【背景技术】

EEPROM(Electrically Erasable Programmable read only memory)是指带电可擦可编程只读存储器，其可通过高于普通电压的作用来擦除和重编程(重写)。不像EPROM芯片，EEPROM不需从计算机中取出即可修改，也即在计算机使用的时候可频繁地反复编程。

产线检测人员在对EEPROM进行读写性能测试步骤包括：首先，将待检测的项目信息一項一項地输入到EEPROM中，输入完成后退出；然后，再将写入的项目信息一项一项的读取出来；最后，人为判断读取出的项目信息是否符合要求。然而，由于上述检测步骤中需要人工手动输入项目信息，不仅花费大量时间，而且还容易输错信息的内容，造成检测错误。并且通过人为判断也容易造成误判，无法做到后续追踪。

有鉴于此，实有必要研发一种EEPROM读写检测系统及其方法，以实现快递高效地对EEPROM进行读写性能测试，以满足现阶段的检测需求。

【发明内容】

为达上述目的，本发明提供的EEPROM读写检测系统，用于对EEPROM进行读写性能检测，其包括：

配置文档单元，其存储EEPROM的测试信息；

输入单元，输入待检测的EEPROM的料号；

写入测试模块，其包括一第一搜索单元及一写入单元，所述第一搜索单元根据所述输入单元输入的料号查找所述配置文档单元存储的测试信息，所述写入单元将查找到的所述测试信息写入到EEPROM中；

读取测试模块，其包括一第二搜索单元及一读取单元，所述第二搜索单元根据所述输入单元输入的料号查找写入到EEPROM中的测试信息，所述读取单元将查找到的测试信息读取出来；

显示单元，其将所述读取单元读取到的测试信息进行显示；

对比单元，其将所述读取单元读取到的测试信息与所述配置文档单存储的测试信息进行对比，得出一检测结果；

存储单元，其将所述检测结果进行存储。

可选的，所述配置文档单元存储的测试信息包括EEPROM的料号、产品序列号、PCBA版本号、分位版本号、产品名称及生产日期。

可选的，所述输入单元为一条码枪，通过该条码枪扫描待检测的EEPROM的料号条形码，即可得出该EEPROM的料号。

可选的，所述检测结果检测合格时，所述显示单元显示“PASS”，所述检测结果检测不合格时，所述显示单元显示“FAIL”。

可选的，所述检测结果包括EEPROM的料号、产品序列号、PCBA版本号、分位版本号、产品名称及生产日期。

可选的，所述存储单元将检测结果生成LOG档进行存储，所述LOG档以待检测的EEPROM的料号命名。