[发明专利]一种光电耦合器辐射效应测试方法

说明书

本发明涉及一种光电耦合器辐射效应测试系统及测试方法，解决现有光电耦合器辐射效应测试方法过程繁琐、数据点较少、耗时耗力、测试效率较低的问题。该测试系统包括光耦固定模块、源表测量模块和PC控制模块；光耦固定模块包括电路板，电路板上设置有源表输入端接口和插座，插座上设置有光电耦合器引脚接口，用于固定连接光电耦合器，源表测量模块与源表输入端接口连接，用于给光电耦合器提供电流或电压，同时对光电耦合器的测试数据进行实时测量；PC控制模块通过GPIB‑USB转换卡与源表测量模块连接，对源表测量模块进行调试与控制，并实时采集与记录测量数据。同时，本发明还提供一种光电耦合器辐射效应测试方法。

技术领域

本发明涉及空间辐射效应领域，具体涉及一种光电耦合器辐射效应测试系统及测试方法。

背景技术

光电耦合器是一种用来传输信号的常用器件，其借助光信号将输出端与输入端联系在一起，达到信号在光-电-光之间的转化和传输，其通常将发光源与受光器封装在同一封闭壳体内。常见的发光源为发光二极管，在输入端加电发光，不同强度的光强照射到受光器上，受光器因光电效应产生电流，通过引脚将电流引出，最后达到隔离输入端与输出端的目的，由于光电耦合器的隔离性好，被广泛应用于空间光通信领域。

由于空间环境中存在相当强的自然辐射，当光电耦合器应用于空间环境时，会受到空间辐射损伤，严重时甚至导致功能失效，对航天器的在轨正常运行和效能发挥构成严重威胁。对航天器来说，长寿命在轨运行是未来的趋势，因此对航天器的各零部件提出了更高的抗辐射要求。

为了解和分析光电耦合器在辐射环境下的损伤机理和性能退化，为抗辐射加固设计提供理论和实验依据，通常在地面对光电耦合器进行辐射效应实验模拟。现有测试方法由于测试仪器的限制，只能在手动设置一个输入值的情况下得到对应输出值，想要得到多个数据点就需要不停地更改输入值的设置，测试过程比较繁琐，数据点较少。同时，由于所需测试的光电耦合器辐射敏感参数较多，更增加了测试的繁琐程度，耗时耗力，严重地影响了测试效率。

发明内容

本发明的目的在于解决现有光电耦合器辐射效应测试方法过程繁琐、数据点较少、耗时耗力、测试效率较低的问题，提供一种光电耦合器辐射效应测试系统及测试方法。该方法和系统可更加全面有效地进行光电耦合器辐射效应地面模拟测试，简化对光电耦合器的辐射敏感参数测试流程，节约人物力成本。

本发明通过以下技术方案实现：

一种光电耦合器辐射效应测试系统，包括光耦固定模块、源表测量模块和PC控制模块；所述光耦固定模块包括电路板，所述电路板上设置有输入端接口插座和光耦插座，所述输入端接口插座上设置有源表输入端接口，所述光耦插座上设置有光电耦合器引脚接口，所述光电耦合器引脚接口用于固定连接光电耦合器；所述源表测量模块与源表输入端接口连接，用于给光电耦合器提供电流或电压，同时对光电耦合器的测试数据进行实时测量；所述PC 控制模块通过GPIB-USB转换卡与源表测量模块连接，对源表测量模块进行调试与控制，并实时采集、记录测量数据。

同时，本发明还提供一种光电耦合器辐射效应测试方法，包括以下步骤：

步骤一、搭建光电耦合器辐射效应测试系统；

步骤二、根据不同辐射环境、辐射粒子和射线种类，选取辐射粒子能量，设置若干个目标总剂量；

步骤三、在不同辐射环境下，对光电耦合器进行辐照；

步骤四、PC控制模块对光电耦合器设置加电状态和写入数据，并控制源表测量模块进行参数测试，同时监测并记录被辐照光电耦合器的辐射敏感参数变化，若未达到预设目标总剂量，重复步骤三；

步骤五、完成所有目标总剂量值的辐照后，绘制各辐射敏感参数以及总剂量值之间的关系曲线，获得光电耦合器辐射敏感参数随总剂量的变化规律。