[发明专利]一种薄层砂体顶界面位置的确定方法、装置及设备

说明书

本申请公开了一种薄层砂体顶界面位置的确定方法、装置、设备及可读存储介质，通过构建二维楔状体地质模型，并基于该模型进行地震正演，得到目标薄层砂体的时间‑厚度偏移曲线，实现了地震资料薄层效应的校正从而精准确定目标薄层砂体的顶界面位置；在此基础上，考虑到薄层砂体上下围岩对地震响应有明显影响，在实际过程中，该方案首先确定目标区域中各个子区域的地层接触模式，并根据各个地层接触模式对应的时间‑厚度偏移曲线确定相应的子区域中目标薄层砂体的顶界面位置，提升了方案的场景适应力。

技术领域

本申请涉及计算机领域，特别涉及一种薄层砂体顶界面位置的确定方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

地震垂向分辨率是地震资料地质解释中的核心问题。一般情况下，地震资料垂向分辨率为地震波长的四分之一。当地层厚度小于地震波长的四分之一时，地层上界面和下界面的地震反射产生干涉叠加效应，导致地震同相轴已无法准确显示地层上界面位置，这种现象称为地震资料的薄层效应。

油气藏开发地质研究中，通过地震资料确定砂体发育特征是核心任务。尤其是油藏进入开发中后期，砂体的顶界面构造特征成为控制剩余油分布的主要控制因素之一。由于目前国内外没有有效的地震资料薄层效应校正方法，薄层的地震解释长期存在误差，为油气藏后期开发带来困扰。

可见，地震资料薄层效应导致无法准确得到薄层砂体的顶界面位置，为油气藏的后期开发带来困扰。

发明内容

本申请的目的是提供一种薄层砂体顶界面位置的确定方法、装置、设备及可读存储介质，用以解决地震资料薄层效应导致的无法准确得到薄层砂体的顶界面位置的问题。具体方案如下：

第一方面，本申请提供了一种薄层砂体顶界面位置的确定方法，包括：

确定目标区域中各个子区域的地层接触模式；

分别根据各个所述地层接触模式构建二维楔状体地质模型；

对所述二维楔状体地质模型进行地震正演，得到各个所述地层接触模式对应的时间-厚度偏移曲线；

根据所述时间-厚度偏移曲线，分别确定所述目标区域中各个所述子区域的目标薄层砂体的顶界面位置。

优选的，在所述确定目标区域中各个子区域的地层接触模式之前，还包括：

获取地震资料和测井资料，根据所述地震资料和所述测井资料确定目标区域在垂直方向上的地层分布规律；

针对水平方向上不同的所述地层分布规律，对所述目标区域进行水平方向上的划分，得到多个子区域。

优选的，所述确定目标区域中各个子区域的地层接触模式，包括：

确定目标区域中各个子区域在垂直方向上的地层序列，以作为地层接触模式。

优选的，所述对所述二维楔状体地质模型进行地震正演，得到各个所述地层接触模式对应的时间-厚度偏移曲线，包括：

利用地震主频的雷克子波对所述二维楔状体地质模型进行地震正演，得到各个所述地层接触模式对应的时间-厚度偏移曲线。

优选的，所述分别根据各个所述地层接触模式构建二维楔状体地质模型，包括：

对于各个所述地层接触模型，根据测井资料确定所述地层接触模式中各个地层的密度参数和纵波传播速度；

根据所述地层接触模式中各个地层的密度参数和纵波传播速度，构建二维楔状体地质模型。

优选的，所述根据测井资料确定所述地层接触模式中各个地层的密度参数和纵波传播速度，包括：

根据测井资料确定所述地层接触模式的声波时差测井曲线和密度测井曲线；