[发明专利]用于采集应用缺陷信息的方法、装置及电子设备

说明书

本公开实施例公开了用于采集应用缺陷信息的方法、装置及电子设备。该方法的一具体实施方式包括：实时监听预设应用在正常运行或测试运行中是否产生缺陷事件；响应于监听到所述应用在正常运行或测试运行中产生缺陷事件，确定所述缺陷事件所指示的缺陷对应的缺陷类型；利用预设缺陷信息采集组件执行与所述缺陷类型匹配的缺陷信息采集操作；上报所采集的缺陷信息。降低了采集缺陷信息的难度与复杂度，提高了采集缺陷信息的效率，并提高了所采集的缺陷信息的准确率。

技术领域

本公开涉及软件测试技术领域，尤其涉及一种用于采集应用缺陷信息的方法、装置及电子设备。

背景技术

通常，开发工程师开发应用程序之后，需要进入测试阶段。在测试阶段发现应用程序的缺陷。一般地，测试阶段主要由测试工程师、软件分析工程师等专业技术人员等对应用程序进行测试。

当测试到应用程序的缺陷后，需要将缺陷的缺陷信息上报给开发工程师，以使开发工程师对缺陷进行修正。目前，上报缺陷信息主要由测试人员在网页端提交问题清单给指定的开发人员。不同测试团队，需要进入各自专门的网站或者客户端，建立问题清单、上传图片、上传视频等信息来描述具体的缺陷。

发明内容

提供该公开内容部分以便以简要的形式介绍构思，这些构思将在后面的具体实施方式部分被详细描述。该公开内容部分并不旨在标识要求保护的技术方案的关键特征或必要特征，也不旨在用于限制所要求的保护的技术方案的范围。

本公开实施例提供了一种用于采集应用缺陷信息的方法、装置及电子设备，实现了在应用缺陷上报过程中智能执行缺陷信息采集操作，以达到便于及时、准确采集应用缺陷信息的目的。

第一方面，本公开实施例提供了一种用于采集应用缺陷信息的方法，该方法包括：实时监听预设应用在正常运行或测试运行中是否产生缺陷事件；响应于监听到所述应用在正常运行或测试运行中产生缺陷事件，确定所述缺陷事件所指示的缺陷对应的缺陷类型；利用预设缺陷信息采集组件执行与所述缺陷类型匹配的缺陷信息采集操作；上报所采集的缺陷信息。

第二方面，本公开实施例提供了一种用于采集应用缺陷信息的装置，该装置包括：监听单元，用于实时监听预设应用在正常运行或测试运行中是否产生缺陷事件；确定单元，用于响应于监听到所述应用在正常运行或测试运行中产生缺陷事件，确定所述缺陷事件所指示的缺陷对应的缺陷类型；信息采集单元，用于利用预设缺陷信息采集组件执行与所述缺陷类型匹配的缺陷信息采集操作；上报单元，用于上报所采集的缺陷信息。

第三方面，本公开实施例提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述本公开实施例第一方面提供的用于采集应用缺陷信息的方法。

第四方面，本公开实施例提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时实现上述本公开实施例第一方面提供的任意一种所述的用于采集应用缺陷信息的方法。

本公开实施例提供的用于采集应用缺陷信息的方法、装置及电子设备，通过实时监听预设应用在正常运行或测试运行中是否产生缺陷事件；响应于监听到所述应用在正常运行或测试运行中产生缺陷事件，确定所述缺陷事件所指示的缺陷对应的缺陷类型：利用预设缺陷信息采集组件执行与所述缺陷类型匹配的缺陷信息采集操作；上报所采集的缺陷信息。实现了在预设应用发生缺陷时，由与预设应用关联的缺陷信息采集组件采集缺陷信息。降低了采集缺陷信息的难度与复杂度，提高了采集缺陷信息的效率，并提高了所采集的缺陷信息的准确率。

要理解的是，前面的一般描述和下面的详细描述两者都是示例性的，并且意图在于提供要求保护的公开创造的进一步说明。

附图说明