[发明专利]用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法有效

专利信息
申请号: 201910716173.6 申请日: 2019-08-05
公开(公告)号: CN110441602B 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 陈恺 申请(专利权)人: 南京尚众微电子科技有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 黄雪
地址: 211101 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 用于 表征 超导体 电子 复电 阻抗 测量方法
【权利要求书】:

1. 一种用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法, 其特征在于,包括:施加交流电压来对铁基超导体的面内复电阻抗进行测量;

在所述施加交流电压来对铁基超导体 的面内复电阻抗进行测量之前,还包括如下步骤:

步骤 1:把铁基超导体单晶材料分别切割成长度方向沿 x 轴方向的长条状试样和长度方向沿 y 轴方向的长条状试样,所述长度方向沿 x 轴方向的长条状试样就作为 x 轴试样,所述长度方向沿 y 轴方向的 长条状试样就作为 y 轴试样;

步骤 2:在 x 轴试样的两端分别设置两个电极一,并且在 y 轴试样的两端也分别设置两个电极二;

步骤 3:在两个电极一上分别设置两个外部导线一,在两个电极二上分别设置两个外部导线二;其中,所述两个电极一、x 轴试样与两根外部导线一就构成了样件一,两个电极一和两根外部导线一串联的结构为中间件一;

所述两个电极二、y 轴试样与两根外部导线二 就构成了样件二;两个电极二和两根外部导线二串联的结构为中间件二;

步骤 4:用复电用电阻抗分析仪进阻抗谱分析,具体分析步骤如下所示:

步骤 4-1:对电阻抗分析仪的内部阻抗进行校准归零;

步骤 4-2:校准归零后,把两根外部导线一分别连接在电阻抗分析仪的两个测试端口;

步骤 4-3:在室温下对样件一进行多次复电阻抗测量,比较多次测量的复电阻抗数据的相对不确定度是否小于设定的阈值,如果该相 对不确定度低于设定的阈值,就跳至步骤4-5 中执行;

步骤 4-4:如果该相对不确定度不低于设定的阈值,就要对该电 阻抗分析仪增设电磁屏蔽装置,并返回步骤 4-3 中执行;

步骤 4-5:利用控温装置对样件一进行降温;

步骤 4-6:待样件一降温到终止温度时,设置控温装置的软件的 均匀升温的速度然后在该软件的控制下按照所设置的均匀升温的速度来对样件一进行升温,同时电阻抗分析仪对所述样件一进行复电阻抗测量;

步骤 4-7:对所述样件一升温到设定的温度值就结束控温装置对 所述样件一的升温;

步骤 4-8:把 x 轴试样从两个电极一中取出,然后直接把两根外部导线一串联起来并分别连接在电阻抗分析仪的两个测试端口,然后 再用电阻抗分析仪测量出每个温度点下的两个电极一和两根外部导线一串联下的复电阻抗数据;

步骤 4-9:用每个温度点下的初始数据一减去该温度点下的背景数据一得到 x 轴试样在该温度点下的复电阻抗数据,然后对所述 y 轴 试样执行与测量所述 x 轴试样的复电阻抗数据原理一样的测量方法 来得到 y 轴试样在该温度点下的复电阻抗数据;其中,所述初始数据一为在该温度点下针对样件一和中间件一进行的该若干次复电阻抗测量,得到的所有复电阻抗数据相加后的总和除以该若干次的次数得到的商值;所述背景数据一为,在该温度点下针对中间件一进行的该若干次复电阻抗测量得到的所有复电阻抗数据相加后的总和,除以该若干次的次数得到的商值。

2.根据权利要求1所述的用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法,其特征在于,所述在x轴试样的两端分别设置两个电极一,并且在y轴试样的两端也分别设置两个电极二的方式为:

在所述x轴试样的两端和y轴试样的两端均涂上银浆,然后把x轴试样和y轴试样裸露在空气中,接着用红外加热灯对所述x轴试样上的银浆和y轴试样上的银浆进行红外线干燥,在所述x轴试样上干燥后的银浆就在x轴试样的两端分别形成两个电极一,在所述y轴试样上干燥后的银浆就在y轴试样的两端分别形成两个电极二;

在两个电极一上分别设置两个外部导线一,在两个电极二上分别设置两个外部导线二的方式为:

在两个电极一上分别焊接两根金丝一,该两根金丝一就形成了两根外部导线一,在两个电极二上分别焊接两根金丝二,该两根金丝二就形成了两根外部导线二。

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