[发明专利]一种对电能表现校仪进行状态评价的方法及装置

权利要求书

1.一种对电能表现校仪进行状态评价的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取预设参数；

对所述电能表现校仪的检测数据准确性、运行可靠性、潜在隐患以及检测影响量进行指标分解，确定可用于对所述电能表现校仪状态评价的M个量化状态项；所述M为正整数；

根据所述预设参数以及电能表现校仪状态评价模型，确定所述M个量化状态项的权重值以及量化值，并计算得出所述电能表现校仪的评分结果；

所述M个量化状态项包括：所述电能表现校仪校准或期间核查的误差数据、被检电能表的误差数据的合格率、被检电能表误差数据的稳定性、现校仪时钟偏差、操作的可靠性、功能的稳定性、同批次电能表现校仪发生的元器件缺陷、同批次电能表现校仪发生的软件漏洞、三相电流不平衡度、三相电压不平衡度、环境温度、环境湿度；

所述电能表现校仪状态评价模型中，所述电能表现校仪校准或期间核查的误差数据的权重为P₁；

所述被检电能表的误差数据的合格率权重为P₂；

所述被检电能表误差数据的稳定性权重为P₃；

所述现校仪时钟偏差权重为P₄；

所述操作的可靠性权重为P₅；

所述功能的稳定性权重为P₆；

所述同批次电能表现校仪发生的元器件缺陷权重为P₇；

所述同批次电能表现校仪发生的软件漏洞权重为P₈；

所述三相电流不平衡度权重为P₉；

所述三相电压不平衡度权重为P₁₀；

所述环境温度权重为P₁₁；

所述环境湿度权重为P₁₂；

其中0P_i1，(i＝1,2，…，12)；

P₁+P₂+P₃+P₄+P₅+P₆+P₇+P₈+P₉+P₁₀+P₁₁+P₁₂＝1；

所述电能表现校仪状态评价模型中，所述电能表现校仪校准或期间核查的误差数据的量化值计算公式为，

其中，S₁为所述电能表现校仪校准或期间核查的误差数据的量化值，a₁为误差小于其80％限值的误差点数量，b₁为误差数据点总数；

所述被检电能表的误差数据的合格率的量化值计算公式为，

其中，S₂为所述被检电能表的误差数据的合格率的量化值，a₂为被检电能表误差数据小于被检电能表误差数据限制的数量，b₂为误差数据总数；

所述被检电能表误差数据的稳定性的量化值计算公式为，

其中，S₃为所述被检电能表误差数据的稳定性的量化值，a₃为被误差数据的标准偏差小于被检电能表误差限值60％的数量，b₃为被检电能表总数；

所述现校仪时钟偏差的量化值为，

S₄＝1，当所述电能表现校仪的时钟偏差≤Pmin时；

S₄＝1，当所述电能表现校仪的时钟偏差＞Pmin时；

所述操作的可靠性的量化值计算公式为，

其中，S₅为所述被检电能表的误差数据的合格率的量化值，a₅为电能表现校仪软件可靠运行次数，b₅为总运行次数；所述P为正数；

所述功能的稳定性的量化值计算公式为，

其中，S₆为所述功能的稳定性的量化值，a₆为电能表现校仪软件各检测项目正常运行的次数，b₆为总运行次数检测项目数；

所述同批次电能表现校仪发生的元器件缺陷的量化值计算公式为，

其中，S₇为所述同批次电能表现校仪发生的元器件缺陷的量化值，a₇为同批次电能表现校仪发生元器件缺陷的电能表现校仪数量，b₇为同批次电能表现校仪发生元器件数量；

所述同批次电能表现校仪发生的软件漏洞的量化值计算公式为，

其中，S₈为所述同批次电能表现校仪发生的软件漏洞的量化值，a₈为同批次电能表现校仪发生软件漏洞数量，b₈为该批次电能表现校仪的数量；

所述三相电流不平衡度的量化值计算公式为，

其中，S₉为所述三相电流不平衡度的量化值，a₉为每次检测时接入回路的三相电流的不平衡度≤Q％检测次数和，b₉为总检测次数；所述Q为正数；

所述三相电压不平衡度的量化值计算公式为，

其中，S₁₀为所述三相电压不平衡度的量化值，a₁₀为每次检测时接入回路的三相电压的不平衡度≤N％检测次数和，b₁₀为总检测次数；所述N为正数；

所述环境温度的量化值计算公式为，

其中，S₁₁为所述环境温度的量化值，a₁₁为检测环境温度位于(-T～S)℃区间的检测次数和，b₁₁为总检测次数；所述T以及S均为正数；

所述环境湿度的量化值计算公式为，

其中，S₁₂为所述环境湿度的量化值，a₁₂为检测环境相对湿度≤90％检测次数和，b₁₂为总检测次数；

所述计算得出所述电能表现校仪的评分结果计算公式为：

F＝(S₁P₁+S₂P₂+S₃P₃+S₄P₄+S₅P₅+S₆P₆+S₇P₇+S₈P₈+S₉P₉+S₁₀P₁₀+S₁₁P₁₁+S₁₂P₁₂)*100

其中，F为所述电能表现校仪的评分结果；

根据所述评分结果以及预设预警阈值，对所述电能表现校仪进行预警。