[发明专利]一种具有合成反铁磁结构的自旋阀薄膜在审
申请号: | 201910718854.6 | 申请日: | 2019-08-05 |
公开(公告)号: | CN110416405A | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 康洁;翁凯伦;王志强;窦爱玉;胡先意 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | H01L43/08 | 分类号: | H01L43/08;H01L43/02;H01L43/10 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 胡剑辉 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 反铁磁结构 自旋阀薄膜 合成 反铁磁钉扎层 非磁性隔离层 两层 复合自由层 交换偏置场 磁电阻率 三层结构 层厚度 覆盖层 厚度比 缓冲层 电子学 衬底 薄膜 优化 | ||
1.一种具有合成反铁磁结构的自旋阀薄膜,所述的具有合成反铁磁结构的自旋阀薄膜自底而上分别有衬底、缓冲层、复合自由层、非磁性隔离层、反铁磁钉扎层以及覆盖层,其特征在于:非磁性隔离层以及反铁磁钉扎层两层之间设置有合成反铁磁结构,所述合成反铁磁结构由CoFe1/Ru/CoFe2三层结构组成,所述合成反铁磁结构中的CoFe1厚度范围为1~3nm,Ru的厚度为0.5nm,CoFe2的厚度范围为1~3nm,所述合成反铁磁结构中的CoFe1与CoFe2两层厚度比为CoFe1:CoFe2=1:1。
2.根据权利要求1所述的一种具有合成反铁磁结构的自旋阀薄膜,其特征在于:所述衬底选用硅基衬底、玻璃衬底或柔性PET衬底制成。
3.根据权利要求1所述的一种具有合成反铁磁结构的自旋阀薄膜,其特征在于:所述缓冲层采用金属Ta制成,且缓冲层的厚度范围为4~6nm。
4.根据权利要求1所述的一种具有合成反铁磁结构的自旋阀薄膜,其特征在于:所述复合自由层采用NiFe/CoFe双层膜结构制成。
5.根据权利要求4所述的一种具有合成反铁磁结构的自旋阀薄膜,其特征在于:所述复合自由层中的NiFe厚度范围为3~5nm,CoFe厚度范围为0.5~1.5nm且NiFe与CoFe两层厚度比为4:1。
6.根据权利要求1所述的一种具有合成反铁磁结构的自旋阀薄膜,其特征在于:所述非磁性隔离层采用金属Cu或者金属Ru制成,所述非磁性隔离层厚度范围为1~2nm。
7.根据权利要求1所述的一种具有合成反铁磁结构的自旋阀薄膜,其特征在于:所述反铁磁钉扎层采用IrMn或者FeMn材料制成,且反铁磁钉扎层的厚度范围为11~13nm。
8.根据权利要求1所述的一种具有合成反铁磁结构的自旋阀薄膜,其特征在于:所述覆盖层采用金属Ta制成,所述覆盖层厚度为4~6nm。
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