[发明专利]一种低探测下限的辐射剂量测量方法在审
| 申请号： | 201910720857.3 | 申请日： | 2019-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN110579788A | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 贺三军;赵修良;陈斌;赵健为;刘丽艳;周超 | 申请（专利权）人： | 南华大学 |
| 主分类号： | G01T1/10 | 分类号： | G01T1/10 |
| 代理公司： | 43113 长沙正奇专利事务所有限责任公司 | 代理人： | 张珉瑞;李美丽 |
| 地址： | 421001 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 食盐 发光技术 脉冲光 剂量元件 探测下限 测量 辐射剂量测量 核事故 测量参数 辐射剂量 光致发光 技术测量 技术基础 吸收辐射 吸收剂量 线性拟合 有效测量 核泄漏 反推 辐射 检测 制作 | ||
1.一种低探测下限的辐射剂量测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一，将现场食盐制作成多个剂量元件；
步骤二，利用脉冲光致发光技术对辐射过不同剂量的各剂量元件进行检测，得到不同剂量元件对应的食盐OSL信号；检测过程中，保持脉冲间隔和脉冲数不变，多次改变脉冲宽度；
步骤三，对各剂量元件的食盐OSL信号和对应的剂量进行线性拟合，得到不同测量参数下的线性拟合度；
步骤四，从不同测量参数下对应的线性拟合度中选取最佳线性拟合度对应的脉冲光致发光技术参数，并得到该脉冲光致发光技术参数下食盐OSL信号与剂量之间的对应关系；
步骤五，在步骤四中得到的脉冲光致发光技术参数下，测量现场食盐OSL信号，并根据步骤四中得到的脉冲光致发光技术参数下食盐OSL信号与剂量之间的对应关系反推计算食盐吸收剂量。
2.如权利要求1所述的低探测下限的辐射剂量测量方法，其特征在于，所述步骤一包括：
采集现场食盐，并形成多个食盐样本；
对多个食盐样本分别辐射不同的剂量，形成多个剂量元件。
3.如权利要求2所述的低探测下限的辐射剂量测量方法，其特征在于，还包括：在对试验样本辐射前，对食盐样本进行光退火处理。
4.如权利要求2所述的低探测下限的辐射剂量测量方法，其特征在于，对多个食盐样本辐射的剂量分别为：1mGy、10mGy、100mGy、200mGy、400mGy、800mGy、1000mGy、2000mGy、4000mGy、8000mGy、10000mGy。
5.如权利要求1所述的低探测下限的辐射剂量测量方法，其特征在于，所述步骤二中，检测过程中，脉冲间隔保持为50ms不变，脉冲数保持50不变，调整脉冲宽度为1ms、5ms、10ms、20ms、30ms、40ms或50ms。
6.如权利要求1所述的低探测下限的辐射剂量测量方法，其特征在于，所述步骤四中，采用Origin软件进行线性拟合。
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