[发明专利]一种基于图像处理的S-VDU响应时间自动测量装置有效
申请号: | 201910724264.4 | 申请日: | 2019-08-07 |
公开(公告)号: | CN110412382B | 公开(公告)日: | 2021-07-20 |
发明(设计)人: | 贺先建;马权;肖鹏;刘明明;陈钊;王小雨;陈阳;文景 | 申请(专利权)人: | 中核控制系统工程有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 林菲菲 |
地址: | 100000 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 图像 处理 vdu 响应 时间 自动 测量 装置 | ||
1.一种基于图像处理的S-VDU响应时间自动测量装置,其特征在于,该测量装置包括信号源、电信号转光信号装置、图像采集系统和上位机;所述上位机控制信号源输出测试信号,同时给到DCS和电信号转光信号装置;所述图像采集系统同时采集DCS的S-VDU和电信号转光信号装置的图像信号,并将获取的图像信号实时传送给上位机进行分析处理;
所述电信号转光信号装置包括模拟量信号转换模块和开关量信号转换模块;
所述模拟量信号转换模块包括电阻和发光二极管,所述电阻的一端接电源端,另一端与发光二极管正极连接,所述发光二极管负极通过DCS的模拟输入端口接地,当DCS的模拟输入端有信号输入,则线路导通,发光二极管发光。
2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述信号源用于模拟现场传感器和/仪表的输出信号,所述测试信号包括模拟量信号或开关量信号。
3.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述上位机包括信号控制系统和图像处理系统;所述信号控制系统用于控制信号源输出测试信号;所述图像处理系统用于对图像采集系统传输过来的图像进行分析处理。
4.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于,所述图像处理系统对图像进行分析处理具体为:所述图像处理系统对图像采集系统传输过来的图像进行去噪,然后提取图像的SIFT特征点,基于每帧图像的时间戳,将SIFT特征点第一次发生变化的时间记为T0,将第二次发生变化的时间记为T1,S-VDU响应时间即为T1-T0。
5.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述图像信号采集系统采用高速摄像机。
6.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述图像信号采集系统实时采集在同一时间、空间的S-VDU显示画面和电信号转光信号装置发光画面。
7.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述开关量信号转换模块包括发光二极管和光耦合器;所述光耦合器的输入端通过分压电路与DCS的开光量输入端口连接,所述光耦合器的输出端、发光二极管和电阻依次串联在接地端和电源端,当DCS的开光亮输入端有信号输入,则光耦合器导通,发光二极管发光。
8.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,该测量装置还包括输出设备,所述输出设备与上位机连接,用于对上位机分析处理后的测试结果进行输出。
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