[发明专利]一种应用于超低TTV单晶硅片的切割方法在审

专利信息
申请号: 201910724703.1 申请日: 2019-08-07
公开(公告)号: CN110497544A 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 王嘉;周炎 申请(专利权)人: 江苏高照新能源发展有限公司
主分类号: B28D5/04 分类号: B28D5/04;B28D7/00
代理公司: 32200 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人: 楼高潮<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 212215 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 切割 硅锭 金刚线 切割加工 走线 单晶硅片 切割过程 清洗机台 有效平衡 运行参数 走线方式 良品率 磨损度 取下 线网 正向 磨损 保证 应用
【权利要求书】:

1.一种应用于超低TTV单晶硅片的切割方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1)清洗机台:清洗金刚线切割机的工作台,检查并清洁预处理的硅锭,设定切割高度;

步骤2)布置线网:在放线轴和收线轴之间布置好金刚线切割线网;

步骤3)设定运行参数:在切割过程中,所述工作台带动工件的运行速度为500~2300μm/min,所述金刚线的线速度为800~1380m/min;

步骤4)切割硅锭:先采用反向走线的方式,对所述硅锭进行切割加工,当切割高度达到设定高度的30%时,再采用正向走线的方式继续对硅锭进行切割加工,直至切割完成,取下硅锭。

2.根据权利要求1所述的一种应用于超低TTV单晶硅片的切割方法,其特征在于,步骤1)所述切割高度为164.5mm。

3.根据权利要求1所述的一种应用于超低TTV单晶硅片的切割方法,其特征在于,步骤2)所述放线轴和收线轴的丝杠的扭矩为85~90 N·m。

4.根据权利要求1所述的一种应用于超低TTV单晶硅片的切割方法,其特征在于,步骤2)所述金刚线的切割张力为7~9 N。

5.根据权利要求1所述的一种应用于超低TTV单晶硅片的切割方法,其特征在于,步骤2)所述金刚线的线径为55±2μm。

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