[发明专利]一种压力信号的校正方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910726476.6 申请日: 2019-08-07
公开(公告)号: CN110427126B 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 高硕;黄安彪;徐立军 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 北京超成律师事务所 11646 代理人: 吴迪
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 压力 信号 校正 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种压力信号的校正方法,其特征在于,包括:

根据完全接触电极响应第一按压操作所产生的电容值、部分接触电极响应第一按压操作所产生的电容值和第一按压操作接触区域相邻的无接触电极响应第一按压操作所产生的电容值,计算得到所述第一按压操作接触区域的面积;所述完全接触电极和部分接触电极均位于所述第一按压操作接触区域内;

根据所述第一按压操作接触区域的中心位置、目标位置、所述中心位置的电容值和目标位置的电容值,计算所述第一按压操作的接触角度;所述目标位置是第一按压操作接触区域中电容值最小的点;所述接触角度是通过第一按压操作的接触斜率进行表示;

根据所述第一按压操作接触区域的面积和接触角度,对第一按压操作产生的压力信号进行校正;

所述根据所述第一按压操作接触区域的面积和接触角度,对第一按压操作产生的压力信号进行校正,包括:

根据每次进行第二按压操作时接触中心到目标位置的接触距离和接触角度,得到接触距离与接触角度的映射关系;所述第二按压操作是在训练过程中进行的按压操作;

根据每次进行第二按压操作的接触角度和压电响应度,得到接触角度与压电响应度的映射关系;

根据所述接触距离与接触角度的映射关系和所述接触角度与压电响应度的映射关系,得到接触距离与压电响应度的映射关系;

根据所述第一按压操作接触区域的面积、接触角度、以及接触距离与压电响应度的映射关系,对第一按压操作产生的压力信号进行校正。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据所述第一按压操作接触区域的面积和接触角度,对第一按压操作产生的压力信号进行校正之后,还包括:

根据校正后的压力信号,生成针对位于所述第一按压操作接触区域内的虚拟对象的控制指令。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一按压操作接触区域的面积、接触角度、以及接触距离与压电响应度的映射关系,对第一按压操作产生的压力信号进行校正,包括:

根据任一个完全接触电极的面积、电容值和第一按压操作接触区域的面积,得到第一按压操作产生的总电容值;

根据所述第一按压操作的接触角度、以及接触距离与压电响应度的映射关系,对第一按压操作的压电响应度进行校正;

根据所述第一按压操作产生的总电容值和所述校正后的第一按压操作的压电响应度,对第一按压操作产生的压力信号进行校正。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据所述第一按压操作接触区域的中心位置、目标位置、所述中心位置的电容值和目标位置的电容值,计算所述第一按压操作的接触角度之前,还包括:

根据触摸屏的灵敏度,确定所述触摸屏的最小感应电容值;

根据所述中心位置的电容值,确定第一按压操作接触区域的最小电容估计值;

判断所述最小电容估计值是否小于所述触摸屏的最小感应电容值,确定最小电容估计值和最小感应电容值中较大的值为第一按压操作接触区域内的最小电容值;

根据所述最小电容值、中心位置和电容值与位置的映射关系,得到所述中心位置的电容值和所述目标位置;

根据所述第一按压操作接触区域的中心位置、目标位置、所述中心位置的电容值和目标位置的电容值,计算所述第一按压操作的接触角度。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,根据所述最小电容值、中心位置和电容值与位置的映射关系,得到所述中心位置的电容值和所述目标位置,包括:

根据所述第一按压操作接触区域的形状得到中心位置;

根据中心位置、最小电容值和如下电容值与位置的映射关系公式,计算中心位置的电容值和目标位置:

其中,I(x,y)是给定位置处的电容值,x是给定位置在触摸屏平面的横坐标,y是给定位置在触摸屏平面的纵坐标,Ib表示无接触电容值,Ip表示最大变化电容值,u是中心位置在触摸屏平面的横坐标,v是中心位置在触摸屏平面的纵坐标,σ是高斯估计方差。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,应用于压电接触屏;所述压电接触屏包括由上至下依次层叠设置的上保护层、上电极层、压电薄膜、下电极层和下保护层。

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